論文の概要: High-Throughput Microwave Package for Precise Superconducting Device Measurement

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2512.18198v1
• Date: Sat, 20 Dec 2025 03:45:20 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2025-12-23 18:54:32.228425
• Title: High-Throughput Microwave Package for Precise Superconducting Device Measurement
• Title（参考訳）: 精密超電導デバイス計測のための高速マイクロ波パッケージ
• Authors: Wei-Ren Syong, Allie Miller, Emma Davis, John R. Pitten, Jorge Ramirez, Nathan Ortiz, Michael Vissers, Doug Bennett, Corey Rae Harrington McRae,
• Abstract要約: オンチップ超伝導量子デバイス用ワイヤボンドフリーPCBフリードロップインマイクロ波パッケージの設計と実験について概説する。 パッケージは超伝導アルミニウムキャビティと吊り下げタングステン伝達ピンからなる。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
• Abstract: Cryogenic microwave measurement of superconducting quantum devices is complicated by the packaging required to connect devices to control and readout circuitry. In this work, we outline the design and experimental demonstration of a wirebond-free, PCB-free, drop-in microwave package for on-chip superconducting quantum devices. The package is composed of a superconducting aluminum cavity with a suspended tungsten transmission pin. The fundamental package cavity mode is far detuned from the 4 GHz to 8 GHz band of interest, and the pin transmission exhibits less than 3 dB of ripple across this range. We demonstrate the use of this package to extract the loss tangent of superconducting ring resonators, measuring a value of (1.10 +- 0.09) x 10^-6, which agrees with measurements of lambda/4 resonators in wirebond-based packaging. This high-throughput measurement system will allow the rapid generation of large datasets for improving superconducting qubit performance, and facilitate time-sensitive surface passivation and oxide regrowth studies.
• Abstract（参考訳）: 超伝導量子デバイスの低温マイクロ波測定は、デバイスを制御および読み出し回路に接続するために必要なパッケージングによって複雑である。 本研究では,オンチップ超伝導量子デバイス用ワイヤボンドフリー,PCBフリー,ドロップインマイクロ波パッケージの設計と実験について概説する。 パッケージは超伝導アルミニウムキャビティと吊り下げタングステン伝達ピンからなる。 基本パッケージキャビティモードは4 GHzから8 GHzの帯域から遠く離れており、ピン透過は3dB未満のリップルを示す。 本パッケージを用いて超伝導リング共振器の損失接点を抽出し, (1.10 +- 0.09) x 10^-6 の値を測定した。 この高スループット測定システムは、超伝導量子ビット性能を向上させるために大規模なデータセットを高速に生成し、時間依存性の表面通過と酸化再成長の研究を容易にする。

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