論文の概要: Multi-level charge fluctuations in a Si/SiGe double quantum dot device
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2601.08088v1
- Date: Tue, 13 Jan 2026 00:06:26 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-01-14 18:27:18.985629
- Title: Multi-level charge fluctuations in a Si/SiGe double quantum dot device
- Title(参考訳): Si/SiGe二重量子ドットデバイスにおける多レベル電荷変動
- Authors: Dylan Albrecht, Feiyang Ye, N. Tobias Jacobson, John M. Nichol,
- Abstract要約: 我々は、Si/SiGe二重量子ドットデバイスに存在する多レベル電荷変動を、電圧と温度の様々なデバイス上で測定する。
変動率,バイアス,重量を様々なデバイス構成で追跡することにより,ゲート電圧と導電率感度を推定する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 1.212038449348389
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Discrete charge fluctuations, routinely observed in semiconductor quantum dot devices, may contribute significantly to device drift and errors resulting from qubit miscalibration. Understanding the nature and origins of these discrete charge fluctuations may provide insights into material improvements or means of mitigating charge noise in semiconductor quantum dot devices. In this work, we measure multi-level charge fluctuations present in a Si/SiGe double quantum dot device over a range of device operating voltages and temperatures. To characterize the parameter-dependent dynamics of the underlying fluctuating degrees of freedom, we perform a detailed analysis of the measured noise timeseries. We perform algorithmically assisted drift detection and change point detection to detrend the data and remove a slow fluctuator component, as a preprocessing step. We perform model comparison on the post-processed time series between different $n$-level fluctuator ($n$LF) factorial hidden Markov models (FHMMs), finding that although at most sweep values the independent pair of 2LFs model would be preferred, in a particular region of voltage space the 4LF model outperforms the other models, indicating a conditional rate dependence between the two fluctuators. By tracking fluctuator transition rates, biases, and weights over a range of different device configurations, we estimate gate voltage and conductivity sensitivity. In particular, we fit a phenomenological, detailed balance model to the extracted independent 2LFs rate data, yielding lever arm estimates in the range of $-2 μ$eV/mV up to $4 μ$eV/mV between the two 2LFs and nearby gate electrodes. We expect that these characterization results may aid in subsequent spatial triangulation of the charge fluctuators.
- Abstract(参考訳): 半導体量子ドットデバイスで日常的に観測される離散電荷ゆらぎは、デバイスドリフトとクビットの誤校正によるエラーに大きく寄与する。
これらの離散電荷ゆらぎの性質と起源を理解することは、半導体量子ドットデバイスにおける電荷ノイズを緩和する材料改良や方法に関する洞察を与えるかもしれない。
本研究は,Si/SiGe二重量子ドットデバイスに存在する多値電荷変動を,動作電圧と温度の幅にわたって測定する。
パラメータ依存的な自由度を特徴付けるために, 測定された雑音の時間軸を詳細に解析する。
アルゴリズムによるドリフト検出と変更点検出を行い、データを遅延させ、遅いゆらぎ成分を前処理ステップとして除去する。
異なる$n$レベルゆらぎ(n$LF)因子隠れマルコフモデル (FHMM) 間の後処理時系列のモデル比較を行い、ほとんどのスイープ値では2LFsモデルの独立対が好ましいが、電圧空間の特定の領域では4LFモデルは他のモデルよりも優れており、2つのゆらぎ間の条件的速度依存性を示す。
変動率,バイアス,重量を様々なデバイス構成で追跡することにより,ゲート電圧および導電率感度を推定する。
特に, 抽出した2LFsレートデータに現象的, 詳細なバランスモデルを適用し, 2LFsと近傍ゲート電極間の2μ$eV/mVの範囲でレバーアーム推定値が最大4μ$eV/mVとなることを示した。
これらの特徴は、その後の電荷ゆらぎの空間的三角測量に役立つと期待されている。
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