論文の概要: SME-YOLO: A Real-Time Detector for Tiny Defect Detection on PCB Surfaces
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2601.11402v1
- Date: Fri, 16 Jan 2026 16:14:56 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-01-19 20:21:50.549551
- Title: SME-YOLO: A Real-Time Detector for Tiny Defect Detection on PCB Surfaces
- Title(参考訳): SME-YOLO:PCB表面におけるTiny欠陥検出のためのリアルタイム検出装置
- Authors: Meng Han,
- Abstract要約: 本稿では,SME-YOLO(Small-target Multi-scale Enhanced YOLO)という,YOLOv11nに基づく新しいフレームワークを提案する。
マルチスケールの畳み込みを利用して、EUCBは徐々に空間解像度を回復し、小さな欠陥に対するエッジとテクスチャの詳細の保存を強化する。
PKU-PCBデータセットの実験結果は、SME-YOLOが最先端の性能を達成することを示す。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 15.290627957525702
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Surface defects on Printed Circuit Boards (PCBs) directly compromise product reliability and safety. However, achieving high-precision detection is challenging because PCB defects are typically characterized by tiny sizes, high texture similarity, and uneven scale distributions. To address these challenges, this paper proposes a novel framework based on YOLOv11n, named SME-YOLO (Small-target Multi-scale Enhanced YOLO). First, we employ the Normalized Wasserstein Distance Loss (NWDLoss). This metric effectively mitigates the sensitivity of Intersection over Union (IoU) to positional deviations in tiny objects. Second, the original upsampling module is replaced by the Efficient Upsampling Convolution Block (EUCB). By utilizing multi-scale convolutions, the EUCB gradually recovers spatial resolution and enhances the preservation of edge and texture details for tiny defects. Finally, this paper proposes the Multi-Scale Focused Attention (MSFA) module. Tailored to the specific spatial distribution of PCB defects, this module adaptively strengthens perception within key scale intervals, achieving efficient fusion of local fine-grained features and global context information. Experimental results on the PKU-PCB dataset demonstrate that SME-YOLO achieves state-of-the-art performance. Specifically, compared to the baseline YOLOv11n, SME-YOLO improves mAP by 2.2% and Precision by 4%, validating the effectiveness of the proposed method.
- Abstract(参考訳): プリント回路基板(PCB)の表面欠陥は、製品の信頼性と安全性を直接侵害する。
しかし、PCB欠陥は、通常、小さなサイズ、高いテクスチャ類似性、不均一なスケール分布によって特徴づけられるため、高精度検出は困難である。
そこで本稿では,SME-YOLO(Small-target Multi-scale Enhanced YOLO)という,YOLOv11nに基づく新しいフレームワークを提案する。
まず、正規化ワッサースタイン距離損失(NWDLoss)を用いる。
この計量は、小さな物体の位置偏差に対するIoU(Intersection over Union)の感度を効果的に緩和する。
次に、元のアップサンプリングモジュールは、Efficient Upsampling Convolution Block (EUCB)に置き換えられる。
マルチスケールの畳み込みを利用して、EUCBは徐々に空間解像度を回復し、小さな欠陥に対するエッジとテクスチャの詳細の保存を強化する。
最後に,Multi-Scale Focused Attention (MSFA) モジュールを提案する。
PCB欠陥の空間分布に合わせて、このモジュールはキースケール間隔内の知覚を適応的に強化し、局所的なきめ細かい特徴とグローバルな文脈情報の効率的な融合を実現する。
PKU-PCBデータセットの実験結果は、SME-YOLOが最先端の性能を達成することを示す。
具体的には, ベースラインのYOLOv11nと比較して, SME-YOLOはmAPを2.2%, 精度を4%改善し, 提案手法の有効性を検証した。
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