論文の概要: Do single-shot projective readouts necessarily estimate the $T_1$ lifetime ?

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2603.10447v1
• Date: Wed, 11 Mar 2026 06:02:52 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2026-03-12 16:22:32.800014
• Title: Do single-shot projective readouts necessarily estimate the $T_1$ lifetime ?
• Title（参考訳）: 単発プロジェクティブの読み出しは必ずしも$T_1$ lifetimeを見積もるのか?
• Authors: Aparajita Modak, Sundeep Kapila, Bent Weber, Klaus Ensslin, Guido Burkard, Bhaskaran Muralidharan,
• Abstract要約: この格差の根源は外生代々の個体群動態である。 二層グラフェン中のスピン-バレー状態の最近の測定に対処する。 設計空間におけるハンドリングの改善により、バレーキュービットの寿命を推定する改訂された読み出しプロトコルが提案される。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
• Abstract: When single-shot qubit readout protocols are adapted for multilevel systems, theoretical $T_1$ lifetime calculations often fall short of capturing the experimental lifetime trends. We identify {\it extrinsic} population dynamics as the fundamental origin of this disparity, establishing that the lifetime estimates can, in certain operating regions, be distinct from the intrinsic $T_1$ time. We clarify these aspects with an integrated theory to address recent measurements [Nat. Nano, 20, 494, (2025)] on spin-valley states in bilayer graphene. While confirming that phonon and Johnson noise are the dominant intrinsic sources, we show that the inclusion of extrinsic factors provide the critical match to the experimental estimates. The extrinsic factors also effectuate violations of generalized Mathiessen's rules also. With an improved handle on the design space, a revised readout protocol to estimate the $T_1$ lifetime of the valley qubit is proposed.
• Abstract（参考訳）: シングルショットキュービットの読み出しプロトコルがマルチレベルシステムに適合する場合、理論的に$T_1$の寿命計算は、しばしば実験寿命の傾向を捉えない。 我々は、この格差の根本原因として外在的な人口動態を同定し、ある操作領域において、寿命推定が本質的な$T_1$時間と区別できることを証明した。 両層グラフェンのスピンバレー状態に関する最近の測定(ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ, ナノ)に対処するための統合理論を用いて, これらの側面を明らかにした。 フォノンとジョンソンのノイズが本質的情報源の主流であることを確認する一方で、外生的要因の含みが実験的な推定値と重要な一致をもたらすことを示す。 外部要因は、一般化されたマシーセンの規則違反にも影響する。 設計空間におけるハンドリングの改善により、谷量子ビットの寿命を推定する改良された読み出しプロトコルが提案される。

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