論文の概要: Adaptive Loss-tolerant Syndrome Measurements

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2603.17988v1
• Date: Wed, 18 Mar 2026 17:50:31 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2026-03-19 18:32:57.867987
• Title: Adaptive Loss-tolerant Syndrome Measurements
• Title（参考訳）: 適応型ロス耐性症候群測定
• Authors: Yuanjia Wang, Todd A. Brun,
• Abstract要約: 我々は、適応的なショアスタイルの測定シーケンスの研究を混合誤差モデルに拡張する。 修正可能な消去を位置誤差に適応的に変換する方法について議論する。 次に、弱いFTEC条件と強いFTEC条件の両方を一般化する。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 1.7403133838762448
• License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
• Abstract: In the presence of qubit losses, the building blocks of fault-tolerant error correction (FTEC) must be revisited. Existing loss-tolerant approaches are mainly architecture-specific, and little attention has been given to optimizing the syndrome measurement sequences under loss. Schemes designed for the standard Pauli error model are not directly applicable because the syndrome patterns differ when both Pauli errors and erasures can occur. Based on recent advances in loss detection units and loss-tolerant syndrome extraction gadgets, we extend the study of adaptive Shor-style measurement sequences to the mixed error model. We begin by discussing how to adaptively convert correctable erasures into located errors. The minimal overhead is quantified by the number of stabilizer measurements, which can be reduced to a subgroup dimension problem for erasures arising in any FTEC circuit for qubits and prime-dimensional qudits. As a byproduct, we provide the construction of the canonical generating set with respect to a given bipartite partition for a stabilizer group on qudits of composite dimension. We then generalize both the weak and strong FTEC conditions. Finally, we present adaptive syndrome-measurement protocols for the mixed error model, generalizing the adaptive protocols for the standard Pauli error model.
• Abstract（参考訳）: クォービット損失が存在する場合、耐故障性エラー補正(FTEC)のビルディングブロックを再検討する必要がある。 既存の耐損失性アプローチは主にアーキテクチャに特有であり、損失下のシンドローム測定シーケンスの最適化にはほとんど注意が払われていない。 標準的なパウリのエラーモデルのために設計されたスキームは、パウリのエラーと消去の両方が起こると、シンドロームパターンが異なるため、直接適用されない。 損失検出装置と損失耐性症候群抽出装置の最近の進歩に基づき、適応型ショア式測定シーケンスの研究を混合誤差モデルに拡張する。 まず、修正可能な消去を位置エラーに適応的に変換する方法について議論する。 最小オーバーヘッドは安定化器の測定数によって定量化され、これは量子ビットおよび素次元量子ビットのFTEC回路で生じる消去のサブグループ次元問題に還元することができる。 副生成物として、合成次元の四重項上の安定化群に対する与えられた二部分割に対する正準生成集合の構成を提供する。 次に、弱いFTEC条件と強いFTEC条件の両方を一般化する。 最後に、混合誤差モデルに対する適応型シンドローム測定プロトコルを提案し、標準パウリ誤差モデルに対する適応型プロトコルを一般化する。

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