論文の概要: Investigation of coherence of niobium-based resonators enabled by a fast-sealing microwave cavity
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2604.08813v1
- Date: Thu, 09 Apr 2026 23:07:47 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-04-13 17:57:53.606696
- Title: Investigation of coherence of niobium-based resonators enabled by a fast-sealing microwave cavity
- Title(参考訳): 高速マイクロ波空洞を用いたニオブ系共振器のコヒーレンスに関する検討
- Authors: Chi Zhang, Richard Germond, Noah Janzen, Anne-Marie Valente-Feliciano, Mustafa Bal, Adrian Lupascu,
- Abstract要約: 酸化物除去後5分以内に真空下に置くことができる高速シール型マイクロ波空洞を開発した。
このような空洞に密封された装置は、単光子パワーで100万を超える内部品質因子を示す。
高速シールマイクロ波空洞は,MA界面の損失を低減し,Nbデバイスにおける高コヒーレンスを維持するための実用的で一貫した手法を提供する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 2.155315646959235
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Resonators and qubits with a niobium (Nb) base metal layer achieve some of the highest coherence times in superconducting quantum devices. The performance of such devices is often limited by loss associated with two-level systems, which are found primarily at material surfaces and interfaces. The metal-air (MA) interface is a major contributor to device loss. In this work, we develop a fast-sealing microwave cavity that enables devices to be placed under vacuum within five minutes of oxide removal, thereby significantly reducing the MA interface loss compared to common device processing and packaging approaches. Using coplanar stripline resonators, we demonstrate that devices sealed in such a cavity exhibit internal quality factors exceeding one million at single-photon power. After re-exposure to air, the devices show downward resonance frequency shifts and quality factor degradations, quantitatively consistent with a model of Nb oxide regrowth. The fast-sealing microwave cavity provides a practical and consistent method to mitigate MA interface loss and sustain high coherence in Nb devices, and establishes a controlled platform for studying metal oxide regrowth kinetics and dielectric properties, the understanding of which is critical to achieving high coherence in superconducting quantum devices.
- Abstract(参考訳): ニオブ(Nb)基金属層を持つ共振器と量子ビットは超伝導量子デバイスにおいて最もコヒーレンスな時間を達成している。
このようなデバイスの性能は、主に材料表面や界面で見られる2レベルシステムに関連する損失によって制限されることが多い。
メタルエア(MA)インターフェースは、デバイス損失に大きく貢献する。
本研究は,5分以内の真空下での真空処理が可能な高速シール型マイクロ波キャビティを開発し,一般的なデバイス処理やパッケージング手法と比較してMA界面の損失を著しく低減する。
コプラナーストリップライン共振器を用いて、このような空洞に密封された装置は、単光子パワーで100万を超える内部品質要因を示すことを示した。
大気への再曝露後、装置は、Nb酸化物の再成長モデルと定量的に一致して、下向きの共鳴周波数シフトと品質要因の劣化を示す。
高速シールマイクロ波空洞は、NbデバイスにおけるMA界面の損失を軽減し、高コヒーレンスを維持するための実用的で一貫した方法を提供し、超伝導量子デバイスにおいて高いコヒーレンスを達成するために重要な金属酸化物の生長速度論と誘電特性を研究するための制御プラットフォームを確立する。
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