論文の概要: Profiling Resilient to Change in Probe Position

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2604.24701v1
• Date: Mon, 27 Apr 2026 17:05:08 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2026-04-28 17:12:08.257053
• Title: Profiling Resilient to Change in Probe Position
• Title（参考訳）: プローブ位置の変化に耐性のあるプロファイリング
• Authors: Elie Bursztein, Michael Gruber, Karel Král, Jean-Michel Picod, Matthias Probst, Georg Sigl,
• Abstract要約: Side Channel Analysis (SCA)は、従来の暗号解析のブラックボックス仮定を緩和する。 本稿では,複数のEMプローブ位置からのトレースを用いて1つのニューラルネットワークをトレーニングし,漏洩を検出することに焦点を当てる。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 3.347581495113045
• License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
• Abstract: Side Channel Analysis (SCA) relaxes the black-box assumption of conventional cryptanalysis by incorporating physical measurements acquired during cryptographic operations. Electro-magnetic (EM) emissions of a chip during computations often provide a very valuable source of side channel leakage. During the evaluation of a chip for electro-magnetic side channel emissions one needs to position an electro-magnetic probe in an advantageous position relative to the chip. Previous literature focused on hot-spot finding and to a lower extend repositioning. Trace augmentations have been considered to aid portability of profiling using one physical device and attacking another device. This paper focuses on training a single neural network using traces from multiple EM probe positions to detect leakage from a larger area over the attacked device. We provide dual evaluation of EM traces - from two completely independent labs - profiling on data from one lab and attacking traces from the other lab.
• Abstract（参考訳）: Side Channel Analysis (SCA)は、暗号処理中に取得した物理測定を組み込むことで、従来の暗号解析のブラックボックス仮定を緩和する。 計算中のチップの電磁放射(EM)は、しばしば非常に貴重なサイドチャネルリーク源となる。 電磁横流路放出用チップの評価では、電磁プローブをチップに対して有利な位置に配置する必要がある。 以前の文献はホットスポットの発見と低い再配置に焦点を当てていた。 トレース強化は、ある物理デバイスを使用して別のデバイスを攻撃するプロファイリングのポータビリティを補助すると考えられている。 本稿では、複数のEMプローブ位置からのトレースを用いて1つのニューラルネットワークをトレーニングし、攻撃デバイス上のより大きな領域からの漏洩を検出することに焦点を当てる。 2つの完全に独立した実験室からのEMトレースの二重評価を提供し、ある実験室からのデータをプロファイリングし、他の実験室からの痕跡を攻撃します。

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