論文の概要: Efficient Mutation Testing of Quantum Machine Learning Models
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2605.00107v1
- Date: Thu, 30 Apr 2026 18:03:11 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-05-04 17:43:28.696793
- Title: Efficient Mutation Testing of Quantum Machine Learning Models
- Title(参考訳): 量子機械学習モデルの効率的な突然変異試験
- Authors: Emma Andrews, Prabhat Mishra,
- Abstract要約: 突然変異試験を量子機械学習アプリケーション、主に量子ニューラルネットワークモデルに拡張する。
我々は、最先端のアプローチと比較して、効率的な故障挿入のための新しい突然変異操作を定義する。
また、冗長な突然変異回路を減らすために、有向突然変異生成手法を提案する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 2.6713452353326717
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Quantum machine learning integrates the strengths of quantum computing and machine learning, enabling models to learn complex features using fewer parameters than their classical counterparts. Due to the increasing complexity of quantum machine learning models, it is necessary to verify that the implementation of these models satisfy the design specification and be free of bugs and faults. Mutation testing is a promising avenue to identify faulty quantum circuits that do not meet design specifications or contain defects by intentionally inserting faults into the quantum circuit. It is necessary to define mutation operations to inject faults into quantum circuits to ensure that a test suite is robust enough to evaluate an implementation against its design specification. In this paper, we extend mutation testing to quantum machine learning applications, primarily quantum neural network models. Specifically, this paper makes two important contributions. We define new mutation operations for efficient fault insertion compared to state-of-the-art approaches. We also present a directed mutation generation technique to reduce redundant mutant circuits. Extensive experimental evaluation demonstrates that our approach generates a more diverse and representative set of mutants, effectively addressing faults that traditional techniques fail to expose.
- Abstract(参考訳): 量子機械学習は量子コンピューティングと機械学習の強みを統合し、モデルが従来のパラメータよりも少ないパラメータで複雑な特徴を学習できるようにする。
量子機械学習モデルの複雑さが増大しているため、これらのモデルの実装が設計仕様を満たし、バグや欠陥がないことを検証する必要がある。
突然変異試験は、設計仕様を満たしていない、または量子回路に意図的に欠陥を挿入することによって欠陥を含む、欠陥のある量子回路を特定するための有望な方法である。
量子回路に障害を注入する突然変異操作を定義して、テストスイートが設計仕様に対する実装を評価するのに十分な堅牢性を保証する必要がある。
本稿では、突然変異試験を量子機械学習アプリケーション、主に量子ニューラルネットワークモデルに拡張する。
具体的には,2つの重要な貢献を行う。
我々は、最先端のアプローチと比較して、効率的な故障挿入のための新しい突然変異操作を定義する。
また、冗長な突然変異回路を減らすために、有向突然変異生成手法を提案する。
大規模な実験的評価は、我々のアプローチがより多様で代表的なミュータントのセットを生成し、従来のテクニックが露呈しない欠陥に効果的に対処していることを示している。
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