論文の概要: When to Skip Syndrome Extraction in Surface-GKP Codes
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2606.24469v1
- Date: Tue, 23 Jun 2026 12:01:14 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-06-24 22:16:48.93585
- Title: When to Skip Syndrome Extraction in Surface-GKP Codes
- Title(参考訳): 表面GKP符号におけるスキップシンドローム抽出のタイミング
- Authors: Vaughn Sohn, Changhun Oh,
- Abstract要約: 表面GKP符号に対する具体的な適応型スキップ方式を提案する。
本手法は, 実測ベースラインに匹敵する論理誤差率を維持しつつ, サーフェス・コード・スタビライザーの測定回数を減らすことができることを示す。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.1909808926064466
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Fault-tolerant quantum error correction requires repeated syndrome extraction to address errors induced by the syndrome-extraction circuit itself. However, repeated syndrome extraction incurs significant overhead in terms of gate count and ancilla consumption (e.g., Gottesman-Kitaev-Preskill (GKP) states). Moreover, noisy syndrome extraction can itself inject additional errors into the data qubits. To address these issues, we propose a concrete adaptive skipping scheme for the surface-GKP code, a representative GKP-concatenated architecture, that uses analog information naturally generated during inner GKP correction. At each round, the scheme selects one of four actions: measuring both Z-type and X-type surface-code stabilizers, measuring only one type, or skipping both types and reusing previous syndromes. The decision is based on a reliability comparison between reusing the previous syndrome value and performing a new noisy syndrome extraction. Using circuit-level simulations, we show that the adaptive skipping scheme can reduce the number of surface-code stabilizer measurements while maintaining logical error rates comparable to or lower than those of the full-measurement baseline. The improvement is most pronounced when gate and measurement noise are larger than idle noise, so that avoiding unnecessary syndrome extraction reduces the noise injected into the code. These results indicate that analog information from inner GKP correction can be used not only to improve decoding but also to reduce the measurement overhead of outer-code syndrome extraction.
- Abstract(参考訳): フォールトトレラントな量子エラー補正は、シンドローム抽出回路自体によって引き起こされるエラーに対処するために、繰り返しのシンドローム抽出を必要とする。
しかし, 反復性症候群抽出は門数, アンシラ摂取量(例: Gottesman-Kitaev-Preskill(GKP)状態)において大きなオーバーヘッドを生じている。
さらに、ノイズシンドローム抽出はデータキュービットに付加的なエラーを注入することができる。
これらの問題に対処するために、内部GKP修正時に自然に生成されたアナログ情報を利用する代表的GKP結合アーキテクチャである表面GKP符号の具体的な適応スキップ方式を提案する。
各ラウンドでは、4つのアクションのうちの1つを選択する。Z型とX型表面コード安定化器を計測し、1つのタイプだけを測定するか、両方のタイプをスキップし、以前のシンドロームを再利用する。
この決定は、以前の症候群値の再利用と新しいノイズ症候群抽出の信頼性比較に基づいている。
回路レベルシミュレーションを用いて, 適応型スキップ方式は, 実測ベースラインと同等以上の論理誤差率を維持しつつ, 表面符号安定化器の測定回数を減らすことができることを示す。
この改善は、ゲートノイズと測定ノイズがアイドルノイズよりも大きい場合に最も顕著であり、不必要なシンドローム抽出を避けることでコードに注入されるノイズを低減する。
これらの結果から, 内部GKP補正から得られるアナログ情報は, 復号化を向上するだけでなく, コード外症候群抽出のオーバーヘッドを低減するためにも利用できることが示唆された。
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