論文の概要: STC-Net: Electroluminescence-Based Solar Cell Crack Segmentation for Power Loss Estimation
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2608.01714v1
- Date: Mon, 03 Aug 2026 05:21:30 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-08-04 15:07:25.333529
- Title: STC-Net: Electroluminescence-Based Solar Cell Crack Segmentation for Power Loss Estimation
- Title(参考訳): STC-Net:電力損失推定のためのエレクトロルミネッセンスベースの太陽電池クラックセグメンテーション
- Abstract要約: 本稿では, エッジ先行, スペクトル先行, 境界位相改善モジュールを組み込んだソーラー・トポロジー・クラック・ネットワーク(STC-Net)を提案し, ひび割れ連続性と境界保存性を向上させる。
PVEL-Sデータセットの実験では、STC-Netはトレーニング中に95.98 MIoU、98.01 MDice、98.00 MAcc、不明なサンプルでは72.52 MIoU、80.16 MDiceを達成した。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.6840587119863305
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Accurate crack assessment in electroluminescence (EL) images is important for photovoltaic (PV) reliability analysis, yet existing segmentation methods often fail to capture the thin, elongated, and structurally constrained nature of crack defects. This paper proposes a Solar Topology Crack Network (STC-Net) that incorporates edge priors, spectral priors, and a boundary-topology refinement module to improve crack continuity and boundary preservation. The framework further extends segmentation to power-loss estimation by deriving a crack-associated inactive-area proxy from the predicted masks. Experiments on the PVEL-S dataset show that STC-Net achieves 95.98 MIoU, 98.01 MDice, and 98.00 MAcc during training, and 72.52 MIoU and 80.16 MDice on unseen test samples. These results demonstrate that STC-Net provides accurate crack localization while offering a practical link between EL-based defect segmentation and PV degradation assessment.
- Abstract(参考訳): エレクトロルミネッセンス(EL)画像の正確なき裂評価は、太陽光発電(PV)の信頼性解析に重要であるが、既存のセグメンテーション法では、ひび割れ欠陥の細長く、構造的に制約された性質を捉えることができないことが多い。
本稿では, エッジ先行, スペクトル先行, 境界位相改善モジュールを組み込んだソーラー・トポロジー・クラック・ネットワーク(STC-Net)を提案し, ひび割れ連続性と境界保存性を向上させる。
このフレームワークは、予測マスクからクラック関連不活性領域プロキシを導出することにより、セグメンテーションをさらにパワーロス推定に拡張する。
PVEL-Sデータセットの実験では、STC-Netはトレーニング中に95.98 MIoU、98.01 MDice、98.00 MAcc、不明なサンプルでは72.52 MIoU、80.16 MDiceを達成した。
これらの結果から, STC-Net は EL-based defect segmentation と PV 劣化評価の実践的リンクを提供しながら, 正確なき裂局所化を提供することが示された。
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