論文の概要: World-First SEM-based Recovery of Crash EDR Data from the EEPROM of a Severely Damaged SRS Module Using CrashScan

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2608.10152v1
• Date: Mon, 10 Aug 2026 19:09:41 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2026-08-12 19:14:45.79204
• Title: World-First SEM-based Recovery of Crash EDR Data from the EEPROM of a Severely Damaged SRS Module Using CrashScan
• Title（参考訳）: クラッシュスキャンによる重症SRSモジュールのEEPROMからのクラッシュEDRデータの世界初回収
• Abstract要約: 永久的、電気的、または火災の被害を受けた後、チップ内に格納されたすべてのデータを抽出し、検証することができる。 これは自動車だけでなく、医療、航空、航空宇宙産業にも役立てることができる。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: This paper introduces fully working and affordable approach to data recovery from automotive SRS (airbag control) module after permanent failure of its data storage memory chip. All essential information was successfully extracted with 100% success rate from a real SRS module after severe accident which resulted in both its Processor and Flash EEPROM chip electrically damaged with visible holes in their packages. Further investigation revealed that the damage was likely caused by overvoltage and subsequent high-current-flow through silicon die of chips. This not only caused some internal metal wires to melt and evaporate but also caused partial evaporation of silicon substrate and the created cavity was filled with melted gold from a bonding wire. This reveals the nature of the failure with local temperatures exceeding 3000°C. Despite to the fact that the on-chip EEPROM array was only a few hundred micrometers away from the damaged area, it did not lose any single bit of information. This proved the approach to be resilient for successful data recovery from severely damaged devices in the future. With the donor unit containing the recovered data, standard bench-top EDR extraction was performed using Collision Sciences CrashScan, yielding a full EDR report. The forensic significance of the recovered data, the technical novelty of the methodology, and the complete accident reconstruction are presented and discussed. Until now, if because of an accident the memory chip was damaged, there was no feasible or affordable solution for full data extraction or recovery. With the use of innovative and proprietary sample preparation and imaging techniques, it became possible to extract and verify all the data stored inside chips after permanent mechanical, electrical or fire damage. This could help not only automotive but also medical, aviation and aerospace industries.
• Abstract（参考訳）: 本稿では,車載SRS(エアバッグ制御)モジュールの永久故障後のデータリカバリに対して,完全かつ安価なアプローチを提案する。 深刻な事故の後、実際のSRSモジュールから100%の成功率ですべての必須情報が抽出され、その結果、プロセッサとフラッシュEEPROMチップは、パッケージの可視孔で電気的に損傷した。 さらなる調査により、この損傷はチップの過電圧とその後のシリコンダイスによる高電流流によって引き起こされた可能性があることが判明した。 これは内部の金属線を溶かして蒸発させるだけでなく、シリコン基板の部分的な蒸発を引き起こし、生成したキャビティはボンディングワイヤから溶かされた金で満たされた。 このことは、局所温度が3000°Cを超える際の故障の性質を明らかにしている。 オンチップのEEPROMアレイは損傷領域から数百マイクロメートルしか離れていなかったにもかかわらず、単一の情報を失うことはなかった。 これにより、将来深刻な損傷を受けたデバイスからのデータ回復を成功させるために、このアプローチは弾力性があることが証明された。 回収したデータを含むドナーユニットにより、標準ベンチトップEDR抽出はCollision Sciences CrashScanを用いて行われ、完全なEDRレポートが得られた。 回収されたデータの法医学的意義,方法論の技術的斬新さ,そして完全な事故復旧について論じる。 これまでのところ、もしメモリチップが事故で損傷したとしても、完全なデータ抽出やリカバリのための実現可能で安価なソリューションは存在しなかった。 革新的でプロプライエタリなサンプル準備とイメージング技術を用いることで、永久的な機械的、電気的、または火災による損傷の後、チップ内部に格納されたすべてのデータを抽出し、検証することが可能になった。 これは自動車だけでなく、医療、航空、航空宇宙産業にも役立てることができる。

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