論文の概要: Predicting electric-field noise in ion traps using fluctuation electrodynamics
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2610.01693v1
- Date: Thu, 01 Oct 2026 13:46:07 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-10-03 01:19:24.155108
- Title: Predicting electric-field noise in ion traps using fluctuation electrodynamics
- Title（参考訳）: ゆらぎ電磁力学を用いたイオントラップの電界ノイズ予測
- Abstract要約: マイクロファブリック表面イオントラップのノイズは、閉じ込められたイオン量子コンピュータのゲートエラーに寄与する。
誘電体および金属材料のバルクのゆらぎから生じる電界雑音を予測する手法を提案する。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.6495596470744656
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Electric-field noise in microfabricated surface ion traps contributes to gate errors in trapped-ion quantum computers, but this noise has been challenging to predict. Here, we present a method to predict the electric-field noise arising from fluctuations in the bulk of dielectric and metallic materials. The method is valid for arbitrary trap geometries, and the only relevant material property is energy loss. We apply it to an ion trap with an electrically floating electrode and find the contribution from dielectrics to be dominant. Our model predicts the observed noise for this trap within a factor of four. In addition, we apply our model to typical surface trap designs and analyze how the electrode structures shield the noise.
- Abstract（参考訳）: マイクロファブリケート表面イオントラップの電界ノイズは、閉じ込められたイオン量子コンピュータのゲート誤差に寄与するが、このノイズは予測が難しい。
本稿では,誘電体および金属材料のバルクのゆらぎから生じる電界雑音を予測する手法を提案する。
この方法は任意のトラップ測地に対して有効であり、関連する唯一の材料特性はエネルギー損失である。
電気的に浮遊する電極を持つイオントラップにこれを印加し、誘電体からの寄与が支配的であることを示す。
本モデルでは,このトラップの観測ノイズを4倍の範囲で予測する。
さらに,本手法を一般的な表面トラップ設計に適用し,電極構造が騒音を遮蔽する方法について解析する。
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