論文の概要: Millisecond phonon lifetimes in piezoelectric nanomechanical resonators
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2610.10700v1
- Date: Wed, 07 Oct 2026 18:00:06 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-10-10 02:36:53.614679
- Title: Millisecond phonon lifetimes in piezoelectric nanomechanical resonators
- Title(参考訳): 圧電ナノメカニカル共振器におけるミリ秒フォノン寿命
- Abstract要約: ギガヘルツ周波数で動作する圧電ナノメカニカル共振器は、量子情報処理と精密センシングのための有望なプラットフォームである。
フォノンの寿命はマイクロ秒帯に限られており, 圧電材料の内在的損失が増大していると考えられる。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Piezoelectric nanomechanical resonators operating at gigahertz frequencies are a promising platform for quantum information processing and precision sensing, but phonon lifetimes have been limited to the microsecond range, widely attributed to the higher intrinsic loss of piezoelectric materials. Here we show that this limitation is not fundamental. Using a fabrication process informed by recent studies of defect-mediated loss in lithium niobate, we combine chemical restoration of ion-milled surfaces with a shadow-mask metallization process to produce lithium niobate phononic crystal resonators with inferred internal phonon lifetimes of up to 21 milliseconds at 3.6 gigahertz, corresponding to quality factors exceeding $4\times10^8$ ($f\cdot Q_i > 10^{18}$) at millikelvin temperatures. By systematically varying the electrode-to-resonator spacing, we demonstrate that the measured lifetime is set by external coupling between the device and the measurement circuit rather than material loss. This establishes that lithium niobate, once fabrication-induced surface damage is removed, achieves an intrinsic quality comparable to the best mechanical materials while remaining an intrinsically piezoelectric platform with strong electromechanical coupling.
- Abstract(参考訳): ギガヘルツ周波数で動作する圧電ナノメカニカル共振器は、量子情報処理と精密センシングのための有望なプラットフォームであるが、フォノン寿命はマイクロ秒の範囲に限られており、圧電材料の本質的な損失が増大している。
ここでは、この制限は基本的なものではないことを示す。
ニオブ酸リチウムの欠陥媒介損失の最近の研究から情報を得た製造プロセスを用いて、ミリケルビン温度で4.6ギガヘルツで21ミリ秒までの内部フォノン寿命を推定したニオブ酸リチウムフォノン結晶共振器を製造するために、イオンミリング表面の化学修復とシャドウマスクの金属化プロセスを組み合わせて、ミリケルビン温度で4.10時間10^8$(f\cdot Q_i > 10^{18}$)を超える品質因子に対応する。
電極と共振器の間隔を系統的に変化させることで、測定寿命は材料損失ではなく、デバイスと測定回路との外部結合によって設定されることを示す。
これにより、ニオブ酸リチウムは製造による表面損傷を除去し、電気機械的結合の強い内在的な圧電プラットフォームを維持しながら、最高の機械材料に匹敵する本質的な品質を達成できる。
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