論文の概要: Transversal syndrome extraction: A unifying construction for measuring the error syndromes of any stabilizer code
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2610.30279v1
- Date: Wed, 21 Oct 2026 18:01:04 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-10-24 02:08:44.094424
- Title: Transversal syndrome extraction: A unifying construction for measuring the error syndromes of any stabilizer code
- Title(参考訳): トランスバーサルシンドローム抽出法 : 任意の安定符号のエラーシンドロームを測定する統一構成法
- Abstract要約: フォールトトレラントシンドローム抽出は、安定器符号に基づく量子誤り訂正に基本的であるが、既存の一般的なプロトコルは回路深さまたは幅においてかなりのコストがかかる。
安定器コードに対してShorとSteane症候群抽出を補間する耐故障性症候群抽出ガジェットのファミリーを構築する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Fault-tolerant syndrome extraction is fundamental to stabilizer-code-based quantum error correction, yet existing general protocols incur substantial costs in either circuit depth or width. In this work, we design ancilla stabilizer states for a general transversal circuit to construct a family of fault-tolerant syndrome-extraction gadgets that interpolate between Shor and Steane syndrome extraction for any stabilizer code. The result is a configurable trade-off between circuit depth and width.
- Abstract(参考訳): フォールトトレラントシンドローム抽出は、安定器符号に基づく量子誤り訂正に基本的であるが、既存の一般的なプロトコルは回路深さまたは幅においてかなりのコストがかかる。
本研究は, 一般的なトランスバーサル回路のためのアンシラ安定化器を設計し, 任意の安定化器符号に対してショアとステアノシンドロームの抽出を補間する耐故障性シンドローム抽出ガジェット群を構築する。
その結果、回路の深さと幅のトレードオフが設定できる。
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