Fugu-MT 論文翻訳(概要): Design of a Single-Shot Electron detector with sub-electron sensitivity for electron flying qubit operation

論文の概要: Design of a Single-Shot Electron detector with sub-electron sensitivity for electron flying qubit operation

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2002.03947v1
Date: Mon, 10 Feb 2020 17:01:35 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-06-04 01:46:20.822099
Title: Design of a Single-Shot Electron detector with sub-electron sensitivity for electron flying qubit operation
Title（参考訳）: 電子フライング量子ビット動作のためのサブ電子感度単発電子検出器の設計
Authors: Glattli D. C., Nath J., Taktak I., Roulleau P., Bauerle C., Waintal X
Abstract要約: 本研究では,電子飛行量子ビットの飛行中検出が可能な単一電荷検出器の設計と検討を行う。その準電子感度は、分数帯電された量子ホール効果のフライング・エニオンの検出を可能にする。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
Abstract: The recent realization of coherent single-electron sources in ballistic conductors let us envision performing time-resolved electronic interferometry experiments analogous to quantum optics experiments.One could eventually use propagating electronic excitations as flying qubits. However an important missing brick is the single-shot electron detection which would enable a complete quantum information operation with flying qubits. Here, we propose and discuss the design of a single charge detector able to achieve in-flight detection of electron flying qubits. Its sub-electron sensitivity would allow the detection of the fractionally charged flying anyons of the Fractional Quantum Hall Effect and would enable the detection of anyonic statistics using coincidence measurements.
Abstract（参考訳）: 近年の導体におけるコヒーレントな単一電子源の実現により、量子光学実験に類似した時間分解電子干渉測定実験の実施が想定された。しかし、重要な欠落したブロックはシングルショット電子検出であり、空飛ぶ量子ビットで完全な量子情報操作を可能にする。本稿では,電子飛行量子ビットの飛行中検出が可能な単一電荷検出器の設計と検討を行う。その準電子感度は、分数帯電された量子ホール効果のフライング・エニオンの検出を可能にし、偶然の測定で任意の統計を検出できるようにする。

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