論文の概要: Towards Reflectivity profile inversion through Artificial Neural
Networks
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2010.07634v3
- Date: Sun, 24 Jan 2021 10:00:18 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2022-10-07 05:42:32.210840
- Title: Towards Reflectivity profile inversion through Artificial Neural
Networks
- Title(参考訳): ニューラルネットワークによる反射率プロファイルインバージョンに向けて
- Authors: Juan Manuel Carmona-Loaiza and Zamaan Raza
- Abstract要約: スペクトル中性子とX線反射率の目標は、実験反射率曲線から長さ密度プロファイルを散乱する材料を推定することである。
本稿では,ニューラルネットワークを用いた非可逆問題に対する元来のアプローチについて検討する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: The goal of Specular Neutron and X-ray Reflectometry is to infer materials
Scattering Length Density (SLD) profiles from experimental reflectivity curves.
This paper focuses on investigating an original approach to the ill-posed
non-invertible problem which involves the use of Artificial Neural Networks
(ANN). In particular, the numerical experiments described here deal with large
data sets of simulated reflectivity curves and SLD profiles, and aim to assess
the applicability of Data Science and Machine Learning technology to the
analysis of data generated at neutron scattering large scale facilities. It is
demonstrated that, under certain circumstances, properly trained Deep Neural
Networks are capable of correctly recovering plausible SLD profiles when
presented with never-seen-before simulated reflectivity curves. When the
necessary conditions are met, a proper implementation of the described approach
would offer two main advantages over traditional fitting methods when dealing
with real experiments, namely, 1. sample physical models are described under a
new paradigm: detailed layer-by-layer descriptions (SLDs, thicknesses,
roughnesses) are replaced by parameter free curves $\rho(z)$, allowing a-priori
assumptions to be fed in terms of the sample family to which a given sample
belongs (e.g. "thin film", "lamellar structure", etc.) 2. the time-to-solution
is shrunk by orders of magnitude, enabling faster batch analyses for large
datasets.
- Abstract(参考訳): スペクトル中性子とX線リフレクションメトリーの目標は、実験反射率曲線からSLD(Scattering Length Density)プロファイルを推定することである。
本稿では,ニューラルネットワーク(ANN)を用いた非可逆問題に対する元来のアプローチについて検討する。
特に, シミュレーションされた反射率曲線とSLDプロファイルの大規模なデータ集合を扱う数値実験を行い, 中性子散乱大規模施設におけるデータ解析へのデータサイエンスと機械学習技術の適用性を評価することを目的とする。
特定の状況下では、適切に訓練されたDeep Neural Networksは、予測できない反射率曲線を提示した場合に、可視なSLDプロファイルを正しく復元することができる。
必要な条件が満たされれば、記述されたアプローチの適切な実装は、実際の実験を扱う際に、従来のフィッティング方法よりも2つの大きな利点をもたらすだろう。
詳細な層別記述(sld、厚み、粗さ)はパラメータフリー曲線$\rho(z)$に置き換えられ、与えられたサンプルが属するサンプルファミリー(例えば、"thin film"、"lamellar structure"など)からa-priori仮定が供給される。
2. 解法は桁違いに縮小され,大規模データセットのバッチ解析が高速化される。
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