論文の概要: Cryogenic single-port calibration for superconducting microwave
resonator measurements
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2103.01491v1
- Date: Tue, 2 Mar 2021 06:24:51 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-04-09 12:20:57.545935
- Title: Cryogenic single-port calibration for superconducting microwave
resonator measurements
- Title（参考訳）: 超伝導マイクロ波共振器測定のための低温単一ポート校正
- Authors: Haozhi Wang, S. Singh, C.R.H. McRae, J.C. Bardin, S.-X. Lin, N.
Messaoudi, A.R. Castelli, Y.J. Rosen, E.T. Holland, D.P. Pappas, J.Y. Mutus
- Abstract要約: 本稿では,商用マイクロ波規格とベクトルネットワークアナライザ(VNA)を用いたデータベース単一ポート校正について述べる。
提案手法の有効性を裏付ける2次元共振器と3次元共振器を併用したデータに基づく単一ポート校正・反射計測を行った。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Superconducting circuit testing and materials loss characterization requires
robust and reliable methods for the extraction of internal and coupling quality
factors of microwave resonators. A common method, imposed by limitations on the
device design or experimental configuration, is the single-port reflection
geometry, i.e. reflection-mode. However, impedance mismatches in cryogenic
systems must be accounted for through calibration of the measurement chain
while it is at low temperatures. In this paper, we demonstrate a data-based,
single-port calibration using commercial microwave standards and a vector
network analyzer (VNA) with samples at millikelvin temperature in a dilution
refrigerator, making this method useful for measurements of quantum phenomena.
Finally, we cross reference our data-based, single-port calibration and
reflection measurement with over-coupled 2D- and 3D-resonators against well
established two-port techniques corroborating the validity of our method.
- Abstract（参考訳）: マイクロ波共振器の内部および結合品質因子の抽出には、超電導回路試験と材料損失特性の信頼性と信頼性が必要である。
デバイス設計や実験的な構成の制限によって課される一般的な方法は、単一ポート反射幾何、すなわち反射モードである。
しかし、低温中における測定鎖の校正により、低温系のインピーダンスミスマッチを考慮しなければならない。
本稿では, 電子レンジ規格とベクトルネットワークアナライザ(VNA)を用いて, 希釈冷凍機内のミリケルビン温度で試料を採取したデータに基づく単一ポート校正を行い, 量子現象の測定に有用であることを示す。
最後に, 2次元および3次元共振器の重ね合わせによるデータベース, 単一ポートキャリブレーションおよび反射計測について, 本手法の有効性を裏付ける確立された2ポート法との比較検討を行った。
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