論文の概要: Directly profiling the dark-state transition density via scanning
tunneling microscope
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2105.13625v1
- Date: Fri, 28 May 2021 07:02:49 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-03-29 04:46:02.907043
- Title: Directly profiling the dark-state transition density via scanning
tunneling microscope
- Title(参考訳): 走査トンネル顕微鏡による暗黒状態遷移密度の直接プロファイリング
- Authors: Guohui Dong and Zhubin Hu and Xiang Sun and Hui Dong
- Abstract要約: 本研究では, 走査型トンネル顕微鏡を用いて, 単一分子の暗黒状態遷移密度を解析する。
補助光ポンピングにより、高輝度状態から基底状態までの蛍光を測定することにより、暗黒状態の検出を実現する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.6882042556551609
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: The molecular dark state participates in many important photon-induced
processes, yet is typically beyond the optical-spectroscopic measurement due to
the forbidden transition dictated by the selection rule. In this work, we
propose to use the scanning tunneling microscope (STM) as an incisive tool to
directly profile the dark-state transition density of a single molecule, taking
advantage of the localized static electronic field near the metal tip. The
detection of dark state is achieved by measuring the fluorescence from a higher
bright state to the ground state with assistant optical pumping. The current
proposal shall bring new methodology to study the single-molecule properties in
the electro-optical devices and the light-assisted biological processes.
- Abstract(参考訳): 分子暗黒状態は多くの重要な光子誘起過程に関与しているが、通常は選択規則によって引き起こされる禁断の遷移のために光学分光測定を超える。
本研究では, 走査型トンネル顕微鏡(STM)を用いて, 金属先端近傍の局所的な静電場を利用して, 単一分子の暗黒状態遷移密度を直接解析する手法を提案する。
補助光ポンピングにより、高輝度状態から基底状態までの蛍光を測定することにより、暗黒状態の検出を実現する。
本提案は、電気光学素子の単一分子特性と光支援生物プロセスを研究するための新しい手法をもたらす。
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