Fugu-MT 論文翻訳(概要): Emergence of biased errors in imperfect photonic circuits

論文の概要: Emergence of biased errors in imperfect photonic circuits

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2106.06717v1
Date: Sat, 12 Jun 2021 08:41:51 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-03-26 21:46:45.740284
Title: Emergence of biased errors in imperfect photonic circuits
Title（参考訳）: 不完全フォトニック回路におけるバイアス誤差の発生
Authors: Fulvio Flamini
Abstract要約: 経路符号化における適度なバイアス誤差の出現について検討し,その光路特性との相関について検討する。我々の分析は、この方向の過去の研究を結びつけ、より深くし、高精度なテストや機械学習の光学的実装の潜在的な問題を明らかにする。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Abstract: We study the impact of experimental imperfections in integrated photonic circuits. We discuss the emergence of a moderate biased error in path encoding, and investigate its correlation with properties of the optical paths. Our analysis connects and deepens previous studies in this direction, revealing potential issues for high-precision tests and optical implementations of machine learning.
Abstract（参考訳）: 集積フォトニック回路における実験欠陥の影響について検討する。経路符号化における適度なバイアス誤差の出現について検討し,その光路特性との相関について検討する。今回の分析は,この方向のこれまでの研究を結びつけ,深め,高精度なテストと機械学習の光学的実装の潜在的な問題を明らかにする。

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