論文の概要: Tiny Machine Learning for Concept Drift
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2107.14759v1
- Date: Fri, 30 Jul 2021 17:02:04 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2021-08-02 12:58:00.858217
- Title: Tiny Machine Learning for Concept Drift
- Title(参考訳): コンセプトドリフトのための小さな機械学習
- Authors: Simone Disabato and Manuel Roveri
- Abstract要約: 本稿では,ディープラーニング特徴抽出器とk-アネレスト近傍に基づくTML-CD(Tiny Machine Learning for Concept Drift)ソリューションを提案する。
適応モジュールは、TML-CDの知識ベースを継続的に更新し、データ生成プロセスに影響を与える概念ドリフトに対処する。
3つの市販マイクロコントローラユニットへのTML-CDの移植は、現実世界の広範システムで提案されていることの実現可能性を示している。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 8.452237741722726
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Tiny Machine Learning (TML) is a new research area whose goal is to design
machine and deep learning techniques able to operate in Embedded Systems and
IoT units, hence satisfying the severe technological constraints on memory,
computation, and energy characterizing these pervasive devices. Interestingly,
the related literature mainly focused on reducing the computational and memory
demand of the inference phase of machine and deep learning models. At the same
time, the training is typically assumed to be carried out in Cloud or edge
computing systems (due to the larger memory and computational requirements).
This assumption results in TML solutions that might become obsolete when the
process generating the data is affected by concept drift (e.g., due to
periodicity or seasonality effect, faults or malfunctioning affecting sensors
or actuators, or changes in the users' behavior), a common situation in
real-world application scenarios. For the first time in the literature, this
paper introduces a Tiny Machine Learning for Concept Drift (TML-CD) solution
based on deep learning feature extractors and a k-nearest neighbors classifier
integrating a hybrid adaptation module able to deal with concept drift
affecting the data-generating process. This adaptation module continuously
updates (in a passive way) the knowledge base of TML-CD and, at the same time,
employs a Change Detection Test to inspect for changes (in an active way) to
quickly adapt to concept drift by removing the obsolete knowledge. Experimental
results on both image and audio benchmarks show the effectiveness of the
proposed solution, whilst the porting of TML-CD on three off-the-shelf
micro-controller units shows the feasibility of what is proposed in real-world
pervasive systems.
- Abstract(参考訳): Tiny Machine Learning (TML)は、組み込みシステムとIoTユニットで動作可能な機械学習およびディープラーニング技術を設計することを目的としている新しい研究分野である。
興味深いことに、関連する文献は主に、機械学習モデルとディープラーニングモデルの推論フェーズの計算とメモリ需要の削減に焦点を当てている。
同時に、トレーニングは通常、クラウドまたはエッジコンピューティングシステム(より大きなメモリと計算要求のため)で実行されると仮定される。
この仮定は、データを生成するプロセスが概念ドリフト(例えば、周期性や季節性の影響、センサーやアクチュエータに影響を及ぼす障害や機能不全、あるいはユーザの振る舞いの変化)によって影響を受ける場合、tmlソリューションが時代遅れになる可能性がある。
本稿では,ディープラーニング特徴抽出器をベースとしたTiny Machine Learning for Concept Drift(TML-CD)ソリューションと,データ生成プロセスに影響を与える概念ドリフトに対処可能なハイブリッド適応モジュールを統合したk-nearest neighbors分類器を紹介する。
この適応モジュールは、TML-CDの知識ベースを(受動的に)継続的に更新し、同時に変更検出テストを使用して(アクティブな方法で)変更を検査し、廃れた知識を取り除き、概念のドリフトに迅速に適応する。
画像と音声のベンチマークによる実験結果から,TML-CDを市販マイクロコントローラユニット3台に移植することで,現実の広汎なシステムにおける提案手法の有効性が示された。
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