論文の概要: Benchmarks for Industrial Inspection Based on Structured Light
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2207.00796v1
- Date: Sat, 2 Jul 2022 11:09:05 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2022-07-08 08:56:44.884489
- Title: Benchmarks for Industrial Inspection Based on Structured Light
- Title（参考訳）: 構造光による産業検査のベンチマーク
- Authors: Yuping Ye, Siyuan Chen and Zhan Song
- Abstract要約: 本稿では,構造化光法の性能評価を行うベンチマークを提案する。
提案した計量は、平坦性、長さ、高さ、球状性などの4つの詳細な基準からなる。
The structured light device built for TypeC pin needles inspection performance by our metrics in the final experimental section。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 4.522666263036414
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Robustness and accuracy are two critical metrics for industrial inspection.
In this paper, we propose benchmarks that can evaluate the structured light
method's performance. Our evaluation metric was learning from a lot of
inspection tasks from the factories. The metric we proposed consists of four
detailed criteria such as flatness, length, height and sphericity. Then we can
judge whether the structured light method/device can be applied to a specified
inspection task by our evaluation metric quickly. A structured light device
built for TypeC pin needles inspection performance is evaluated via our metrics
in the final experimental section.
- Abstract（参考訳）: ロバストさと精度は、産業検査の2つの重要な指標である。
本稿では,構造化光方式の性能を評価するベンチマークを提案する。
私たちの評価基準は、工場から多くの検査タスクから学びました。
提案した計量は、平坦性、長さ、高さ、球状性などの4つの詳細な基準からなる。
そして, 評価基準により, 所定の点検作業に構造化光法/デバイスを迅速に適用できるかどうかを判断できる。
本報では, タイプcピンニードル検査のための構造光デバイスについて, 最終実験部で測定値を用いて評価した。
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