Fugu-MT 論文翻訳(概要): Ion trap with gold-plated alumina: substrate and surface characterization

論文の概要: Ion trap with gold-plated alumina: substrate and surface characterization

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2207.06878v2
Date: Mon, 26 Dec 2022 13:29:09 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-02-05 01:31:01.904831
Title: Ion trap with gold-plated alumina: substrate and surface characterization
Title（参考訳）: 金めっきアルミナによるイオントラップ:基板と表面キャラクタリゼーション
Authors: Myunghun Kim, Keumhyun Kim, Jungsoo Hong, Hyegoo Lee, Youngil Moon, Wonchan Lee, Sehyun Kim, Taekyun Ha, Jae-Yoon Sim, Moonjoo Lee
Abstract要約: 本稿では, セグメント化ブレード線状イオントラップの完全な開発プロセスについて述べる。アルミナ基板は、X線回折および損失タングエント測定により特徴づけられる。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Abstract: We describe a complete development process of a segmented-blade linear ion trap. Alumina substrate is characterized with an X-ray diffraction and loss-tangent measurement. The blade is laser-micromachined and polished, followed by the sputtering and gold electroplating. Surface roughness is examined at each step of the fabrication via both electron and optical microscopies. On the gold-plated facet, we obtain a height deviation of tens of nanometers in the vicinity of the ion position. Trapping of laser-cooled $^{174}$Yb$^{+}$ ions is demonstrated.
Abstract（参考訳）: 本稿では,セグメントドブレード式リニアイオントラップの開発プロセスについて述べる。アルミナ基板は、X線回折および損失タングエント測定により特徴づけられる。ブレードはレーザー加工され研磨され、続いてスパッタリングと金めっきが行われる。表面粗さは、電子と光学顕微鏡の両方を通して製造の各工程で調べられる。金メッキされたファセットでは、イオン位置付近で数十ナノメートルの高さ偏差が得られる。レーザー冷却した$^{174}$yb$^{+}$イオンのトラップ効果を示す。

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