論文の概要: Ion trap with gold-plated alumina: substrate and surface
characterization
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2207.06878v2
- Date: Mon, 26 Dec 2022 13:29:09 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-02-05 01:31:01.904831
- Title: Ion trap with gold-plated alumina: substrate and surface
characterization
- Title(参考訳): 金めっきアルミナによるイオントラップ:基板と表面キャラクタリゼーション
- Authors: Myunghun Kim, Keumhyun Kim, Jungsoo Hong, Hyegoo Lee, Youngil Moon,
Wonchan Lee, Sehyun Kim, Taekyun Ha, Jae-Yoon Sim, Moonjoo Lee
- Abstract要約: 本稿では, セグメント化ブレード線状イオントラップの完全な開発プロセスについて述べる。
アルミナ基板は、X線回折および損失タングエント測定により特徴づけられる。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: We describe a complete development process of a segmented-blade linear ion
trap. Alumina substrate is characterized with an X-ray diffraction and
loss-tangent measurement. The blade is laser-micromachined and polished,
followed by the sputtering and gold electroplating. Surface roughness is
examined at each step of the fabrication via both electron and optical
microscopies. On the gold-plated facet, we obtain a height deviation of tens of
nanometers in the vicinity of the ion position. Trapping of laser-cooled
$^{174}$Yb$^{+}$ ions is demonstrated.
- Abstract(参考訳): 本稿では,セグメントドブレード式リニアイオントラップの開発プロセスについて述べる。
アルミナ基板は、X線回折および損失タングエント測定により特徴づけられる。
ブレードはレーザー加工され研磨され、続いてスパッタリングと金めっきが行われる。
表面粗さは、電子と光学顕微鏡の両方を通して製造の各工程で調べられる。
金メッキされたファセットでは、イオン位置付近で数十ナノメートルの高さ偏差が得られる。
レーザー冷却した$^{174}$yb$^{+}$イオンのトラップ効果を示す。
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