論文の概要: Guided-deconvolution for Correlative Light and Electron Microscopy
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2208.09451v1
- Date: Fri, 19 Aug 2022 17:12:15 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2022-08-22 17:36:44.182242
- Title: Guided-deconvolution for Correlative Light and Electron Microscopy
- Title(参考訳): 相関光と電子顕微鏡の誘導分解
- Authors: Fengjiao Ma, Rainer Kaufmann, Jaroslaw Sedzicki, Zolt\'an
Cseresny\'es, Christoph Dehio, Stephanie Hoeppener, Marc Thilo Figge, Rainer
Heintzmann
- Abstract要約: 相関光と電子顕微鏡は細胞の内部構造を研究する強力なツールである。
これは、光(LM)と電子(EM)顕微鏡情報の相互利益を組み合わせたものである。
EM画像上にLMをオーバーレイして機能的情報を構造的情報に割り当てるという古典的なアプローチは、LM画像に見られる構造的詳細の大きな相違によって妨げられる。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-sa/4.0/
- Abstract: Correlative light and electron microscopy is a powerful tool to study the
internal structure of cells. It combines the mutual benefit of correlating
light (LM) and electron (EM) microscopy information. However, the classical
approach of overlaying LM onto EM images to assign functional to structural
information is hampered by the large discrepancy in structural detail visible
in the LM images. This paper aims at investigating an optimized approach which
we call EM-guided deconvolution. It attempts to automatically assign
fluorescence-labelled structures to details visible in the EM image to bridge
the gaps in both resolution and specificity between the two imaging modes.
- Abstract(参考訳): 相関光と電子顕微鏡は細胞の内部構造を研究する強力なツールである。
これは、光(LM)と電子(EM)顕微鏡情報の相互利益を組み合わせたものである。
しかし、em画像にlmを重ねて構造情報に機能的に割り当てる古典的なアプローチは、lm画像で見える構造的詳細の大きな違いによって妨げられている。
本稿では,EM誘導デコンボリューションと呼ばれる最適化アプローチについて検討する。
蛍光標識構造をem画像で見える詳細に自動的に割り当てて、2つの撮像モード間の解像度と特異性のギャップを埋める。
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