論文の概要: Fano Interference in Microwave Resonator Measurements

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2209.03036v2
• Date: Mon, 27 Mar 2023 13:42:11 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2023-03-29 02:46:12.192812
• Title: Fano Interference in Microwave Resonator Measurements
• Title（参考訳）: マイクロ波共振器計測におけるファノ干渉
• Authors: D. Rieger, S. G\"unzler, M. Spiecker, A. Nambisan, W. Wernsdorfer, I.M. Pop
• Abstract要約: Q_mathrmi$のシステマティックエラーは、信号とバックグラウンドパスとの干渉によって生じることを示す。 典型的なマイクロ波共振器測定におけるファノ干渉の関連について実験的に述べる。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: Resonator measurements are a simple but powerful tool to characterize a material's microwave response. The losses of a resonant mode are quantified by its internal quality factor $Q_\mathrm{i}$, which can be extracted from the scattering coefficient in a microwave reflection or transmission measurement. Here we show that a systematic error on $Q_\mathrm{i}$ arises from Fano interference of the signal with a background path. Limited knowledge of the interfering paths in a given setup translates into a range of uncertainty for $Q_\mathrm{i}$, which increases with the coupling coefficient. We experimentally illustrate the relevance of Fano interference in typical microwave resonator measurements and the associated pitfalls encountered in extracting $Q_\mathrm{i}$. On the other hand, we also show how to characterize and utilize the Fano interference to eliminate the systematic error.
• Abstract（参考訳）: 共振器の測定は、材料のマイクロ波応答を特徴づける単純だが強力なツールである。 共振モードの損失を内部品質係数$Q_\mathrm{i}$で定量し、マイクロ波反射または透過測定における散乱係数から抽出することができる。 ここで、$q_\mathrm{i}$ の系統的誤りは、背景パスを持つ信号のファノ干渉から生じることを示す。 与えられた設定における干渉経路の限られた知識は、結合係数によって増加する$Q_\mathrm{i}$に対する不確実性の範囲に変換される。 典型的なマイクロ波共振器測定におけるファノ干渉の関連と,Q_\mathrm{i}$の抽出で発生する落とし穴について実験的に考察した。 一方,ファノ干渉をシステマティックエラーを排除するために特徴付けし,活用する方法を示す。

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