論文の概要: A compact and versatile cryogenic probe station for quantum device testing

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2212.12369v1
• Date: Fri, 23 Dec 2022 14:44:09 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2023-01-09 07:08:29.128322
• Title: A compact and versatile cryogenic probe station for quantum device testing
• Title（参考訳）: 量子デバイステストのためのコンパクトで汎用的な極低温プローブステーション
• Authors: Mathieu de Kruijf, Simon Geyer, Toni Berger, Matthias Mergenthaler, Floris Braakman, Richard J. Warburton, and Andreas V. Kuhlmann
• Abstract要約: 室温から2ドル以下まで操作可能なプローブステーションを提案する。 その小さなサイズは、磁石による標準的な低温測定装置と互換性がある。 本稿では,シリコンフィン電界効果トランジスタを量子ドットスピン量子ビットのホストとして特徴付けることにより,プローブの性能を実証する。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
• License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
• Abstract: Fast feedback from cryogenic electrical characterization measurements is key for the development of scalable quantum computing technology. At room temperature, high-throughput device testing is accomplished with a probe-based solution, where electrical probes are repeatedly positioned onto devices for acquiring statistical data. In this work we present a probe station that can be operated from room temperature down to below 2$\,$K. Its small size makes it compatible with standard cryogenic measurement setups with a magnet. A large variety of electronic devices can be tested. Here, we demonstrate the performance of the prober by characterizing silicon fin field-effect transistors as a host for quantum dot spin qubits. Such a tool can massively accelerate the design-fabrication-measurement cycle and provide important feedback for process optimization towards building scalable quantum circuits.
• Abstract（参考訳）: 低温電気特性測定からの迅速なフィードバックは、スケーラブルな量子コンピューティング技術の発展の鍵となる。 室温では、高スループットデバイステストはプローブベースのソリューションで行われ、電気プローブは統計データを取得するためのデバイスに繰り返し配置される。 本研究では, 室温から2$\,$K以下まで操作可能なプローブステーションを提案する。 その小さなサイズは、磁石による標準的な低温測定装置と互換性がある。 様々な電子機器を試すことができる。 本稿では,シリコンフィン電界効果トランジスタを量子ドットスピン量子ビットのホストとして特徴付けることにより,プローブの性能を実証する。 このようなツールは、設計・ファブリケーション・測定サイクルを大幅に加速し、スケーラブルな量子回路を構築するためのプロセス最適化に重要なフィードバックを提供する。

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