論文の概要: Improving Spectrum-Based Localization of Multiple Faults by Iterative
Test Suite Reduction
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2306.09892v1
- Date: Fri, 16 Jun 2023 15:00:40 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-10-23 19:37:52.381506
- Title: Improving Spectrum-Based Localization of Multiple Faults by Iterative
Test Suite Reduction
- Title(参考訳): 繰り返しテストスイート削減による多重断層のスペクトルに基づく局所化の改善
- Authors: Dylan Callaghan, Bernd Fischer
- Abstract要約: 本稿では,複数の断層が存在する場合の基準距離の局所化を改善する新しいSBFL拡張であるFLITSRを提案する。
3つのスペクトルタイプすべてに対して、最高のベースメトリックよりも30%-90%の、異なる断層レベルで平均的な無駄な労力が大幅に削減される。
メソッドレベルの実障害に対しては、FLITSRは、最先端の学習ベースの障害ローカライザであるGRACEを著しく上回っている。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.30458514384586394
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Spectrum-based fault localization (SBFL) works well for single-fault programs
but its accuracy decays for increasing fault numbers. We present FLITSR (Fault
Localization by Iterative Test Suite Reduction), a novel SBFL extension that
improves the localization of a given base metric specifically in the presence
of multiple faults. FLITSR iteratively selects reduced versions of the test
suite that better localize the individual faults in the system. This allows it
to identify and re-rank faults ranked too low by the base metric because they
were masked by other program elements. We evaluated FLITSR over method-level
spectra from an existing large synthetic dataset comprising 75000 variants of
15 open-source projects with up to 32 injected faults, as well as method-level
and statement-level spectra from a new dataset with 326 true multi-fault
versions from the Defects4J benchmark set containing up to 14 real faults. For
all three spectrum types we consistently see substantial reductions of the
average wasted efforts at different fault levels, of 30%-90% over the best base
metric, and generally similarly large increases in precision and recall, albeit
with larger variance across the underlying projects. For the method-level real
faults, FLITSR also substantially outperforms GRACE, a state-of-the-art
learning-based fault localizer.
- Abstract(参考訳): spectrum-based fault localization (sbfl) は単相プログラムではうまく機能するが、その精度は故障数を増やすために低下する。
本稿では,複数の断層が存在する場合に,与えられた基準値の局所化を改善する新しいSBFL拡張であるFLITSR(Fault Localization by Iterative Test Suite Reduction)を提案する。
FLITSRは、システム内の個々の障害をよりよくローカライズする、テストスイートの縮小バージョンを反復的に選択する。
これにより、他のプログラム要素によって隠されたため、ベースメトリックでランクが低すぎる障害を特定し、ランク付けすることができる。
提案手法は,最大32の障害を含む15のオープンソースプロジェクトの75,000の変種と,最大14の障害を含むDefects4Jベンチマークセットから326の真のマルチフォールトバージョンを持つ新しいデータセットからのメソッドレベルおよびステートメントレベルスペクトルからなる,既存の大規模合成データセットのFLITSRを用いて評価した。
すべての3つのスペクトルタイプに対して、異なる断層レベルにおける平均的な無駄な労力の大幅な削減、最高のベースメータの30%-90%の削減、そして一般的には、基礎となるプロジェクト間で大きなばらつきがあるにもかかわらず、精度とリコールの大幅な増加が見られる。
メソッドレベルの実障害に対しては、FLITSRは、最先端の学習ベースの障害ローカライザであるGRACEを著しく上回っている。
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