論文の概要: Test-Time Degradation Adaptation for Open-Set Image Restoration
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2312.02197v4
- Date: Wed, 5 Jun 2024 03:13:24 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2024-06-07 03:55:26.098003
- Title: Test-Time Degradation Adaptation for Open-Set Image Restoration
- Title(参考訳): オープンセット画像復元のためのテスト時間劣化適応
- Authors: Yuanbiao Gou, Haiyu Zhao, Boyun Li, Xinyan Xiao, Xi Peng,
- Abstract要約: オープンセット画像復元のためのテスト時間劣化適応フレームワークを提案する。
本手法はタスク固有の手法よりも性能が優れている。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 35.94643881619977
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: In contrast to close-set scenarios that restore images from a predefined set of degradations, open-set image restoration aims to handle the unknown degradations that were unforeseen during the pretraining phase, which is less-touched as far as we know. This work study this challenging problem and reveal its essence as unidentified distribution shifts between the test and training data. Recently, test-time adaptation has emerged as a fundamental method to address this inherent disparities. Inspired by it, we propose a test-time degradation adaptation framework for open-set image restoration, which consists of three components, \textit{i.e.}, i) a pre-trained and degradation-agnostic diffusion model for generating clean images, ii) a test-time degradation adapter adapts the unknown degradations based on the input image during the testing phase, and iii) the adapter-guided image restoration guides the model through the adapter to produce the corresponding clean image. Through experiments on multiple degradations, we show that our method achieves comparable even better performance than those task-specific methods. The code is available at https://github.com/XLearning-SCU/2024-ICML-TAO.
- Abstract(参考訳): 事前定義された劣化からイメージを復元するクローズセットのシナリオとは対照的に、オープンセットのイメージ復元は、事前学習期間中に予期せぬ劣化に対処することを目的としている。
本研究は,この課題を考察し,テストデータとトレーニングデータ間の不特定分布シフトとして本質を明らかにする。
近年、テスト時間適応は、この固有の格差に対処するための基本的な方法として現れている。
そこで我々は,3つのコンポーネントであるtextit{i.e.} から構成されるオープンセット画像復元のためのテスト時間劣化適応フレームワークを提案する。
一 クリーンな画像を生成するための事前訓練及び劣化診断拡散モデル
二 試験期間中の入力画像に基づいて未知の劣化に適応する試験時間劣化アダプタ
三 アダプタ誘導画像復元は、アダプタを介してモデルをガイドし、対応するクリーン画像を作成する。
複数の劣化実験により,本手法はタスク固有の手法よりも高い性能を達成できることが判明した。
コードはhttps://github.com/XLearning-SCU/2024-ICML-TAOで公開されている。
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