Fugu-MT 論文翻訳(概要): Device-independent dimension leakage null test on qubits at low operational cost

論文の概要: Device-independent dimension leakage null test on qubits at low operational cost

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2405.18827v2
Date: Wed, 09 Oct 2024 11:37:19 GMT
ステータス: 翻訳完了
システム内更新日: 2024-10-10 16:16:22.612131
Title: Device-independent dimension leakage null test on qubits at low operational cost
Title（参考訳）: 動作コストの低いクビットにおけるデバイス非依存次元リークヌルテスト
Authors: Tomasz Rybotycki, Tomasz Białecki, Josep Batle, Adam Bednorz,
Abstract要約: 我々は、デバイス独立であり、少数の異なる実験を必要とするキュービットの2レベル空間のヌルテストを構築する。ほとんどの量子ビットは10以上の標準偏差でテストに失敗する。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
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Abstract: We construct a null test of the two-level space of a qubit, which is both device independent and needs a small number of different experiments. We demonstrate its feasibility on IBM Quantum, with most qubits failing the test by more than 10 standard deviations. The robustness of the test against common technical imperfections, like decoherence and phase shifts, and supposedly negligible leakage, indicates that the origin of deviations is beyond known effects.
Abstract（参考訳）: 我々は、デバイス独立であり、少数の異なる実験を必要とするキュービットの2レベル空間のヌルテストを構築する。ほとんどの量子ビットは10以上の標準偏差でテストに失敗する。脱コヒーレンスや位相シフトといった一般的な技術的欠陥に対するテストの堅牢さは、逸脱の起源が既知の効果を超えていることを示している。

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