論文の概要: Pattern-based quantum functional testing
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2405.20828v1
- Date: Fri, 31 May 2024 14:20:04 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2024-06-03 14:27:53.935522
- Title: Pattern-based quantum functional testing
- Title(参考訳): パターンに基づく量子機能テスト
- Authors: Erik Weiss, Marcel Cech, Stanislaw Soltan, Martin Koppenhöfer, Michael Krebsbach, Thomas Wellens, Daniel Braun,
- Abstract要約: 本稿では、量子メモリの機能を評価するためのパターンベースの手法を提案する。
提案手法は,異なる種類のクロストーク効果の検出と,個々の量子ビットにおける非マルコフ力学を示すシグネチャの検出を可能にする。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.7067443325368975
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: With the growing number of qubits of quantum information processing devices, the task of fully characterizing these processors becomes increasingly unfeasible. From a practical perspective, one wants to find possible errors in the functioning of the device as quickly as possible, or otherwise establish its correct functioning with high confidence. In response to these challenges, we propose a pattern-based approach inspired by classical memory testing algorithms to evaluate the functionality of a quantum memory, based on plausible failure mechanisms. We demonstrate the method's capability to extract pattern dependencies of important qubit characteristics, such as $T_1$ and $T_2$ times, and to identify and analyze interactions between adjacent qubits. Additionally, our approach enables the detection of different types of crosstalk effects and of signatures indicating non-Markovian dynamics in individual qubits.
- Abstract(参考訳): 量子情報処理デバイスの数が増えるにつれて、これらのプロセッサを完全に特徴付けるタスクはますます不可能になる。
実用の観点からは、デバイスの機能にできる限り早くエラーを見つけたい場合や、信頼性の高い正しい機能を確立したい場合があります。
これらの課題に対応するために,従来のメモリテストアルゴリズムに着想を得たパターンベースのアプローチを提案し,量子メモリの機能を評価する。
本稿では,T_1$や$T_2$ timesなどの重要な量子ビット特性のパターン依存性を抽出し,隣接する量子ビット間の相互作用を同定・解析する手法について述べる。
さらに,提案手法は,異なる種類のクロストーク効果や,個々の量子ビットにおける非マルコフ力学を示すシグネチャの検出を可能にする。
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