論文の概要: MulTi-Wise Sampling: Trading Uniform T-Wise Feature Interaction Coverage for Smaller Samples
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2406.19801v1
- Date: Fri, 28 Jun 2024 10:16:10 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2024-07-01 17:10:02.981992
- Title: MulTi-Wise Sampling: Trading Uniform T-Wise Feature Interaction Coverage for Smaller Samples
- Title(参考訳): MulTi-Wiseサンプリング:より小さなサンプルのための一様T-Wise特徴相互作用カバー
- Authors: Tobias Pett, Sebastian Krieter, Thomas Thüm, Ina Schaefer,
- Abstract要約: 既存のt-wiseサンプリングアルゴリズムは、すべての特徴に対するt-wise特徴相互作用を均一にカバーする。
本稿では,一様カバレッジの必要性を問う,T-wise特徴相互作用サンプリングに対する新しいアプローチを提案する。
我々のアプローチは、重要な特徴のサブセットに対する高いt値を考慮して、臨界特徴のサブセットと非臨界特徴のサブセットを優先順位付けする。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 4.337339380445765
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Ensuring the functional safety of highly configurable systems often requires testing representative subsets of all possible configurations to reduce testing effort and save resources. The ratio of covered t-wise feature interactions (i.e., T-Wise Feature Interaction Coverage) is a common criterion for determining whether a subset of configurations is representative and capable of finding faults. Existing t-wise sampling algorithms uniformly cover t-wise feature interactions for all features, resulting in lengthy execution times and large sample sizes, particularly when large t-wise feature interactions are considered (i.e., high values of t). In this paper, we introduce a novel approach to t-wise feature interaction sampling, questioning the necessity of uniform coverage across all t-wise feature interactions, called \emph{\mulTiWise{}}. Our approach prioritizes between subsets of critical and non-critical features, considering higher t-values for subsets of critical features when generating a t-wise feature interaction sample. We evaluate our approach using subject systems from real-world applications, including \busybox{}, \soletta{}, \fiasco{}, and \uclibc{}. Our results show that sacrificing uniform t-wise feature interaction coverage between all features reduces the time needed to generate a sample and the resulting sample size. Hence, \mulTiWise{} Sampling offers an alternative to existing approaches if knowledge about feature criticality is available.
- Abstract(参考訳): 高度に構成可能なシステムの機能的安全性を確保するには、テストの労力を削減し、リソースを節約するために、可能なすべての構成の代表的なサブセットをテストする必要があることが多い。
T-Wise Feature Interaction Coverage (T-Wise Feature Interaction Coverage) は、構成のサブセットが代表的で欠陥を見つけることができるかどうかを決定する一般的な基準である。
既存のt-wiseサンプリングアルゴリズムは、全ての特徴に対するt-wiseフィーチャの相互作用を均一にカバーし、特に大きなt-wise特徴の相互作用(すなわちtの高値)を考慮した場合、長い実行時間と大きなサンプルサイズをもたらす。
本稿では,すべてのt-wise特徴相互作用に対して一様カバレッジの必要性を問う,t-wise特徴相互作用サンプリングに対する新しいアプローチを提案する。
本手法は, 臨界特徴と非臨界特徴のサブセットを優先し, t-wise特徴の相互作用サンプルを生成する際に, 臨界特徴のサブセットに対して高いt値を考える。
本稿では, 実世界のアプリケーションにおける対象システムを用いて, 提案手法の評価を行う。
以上の結果から,全特徴量間におけるT-wise特徴相互作用の均一化は,試料生成時間と試料サイズを減少させることがわかった。
したがって、 \mulTiWise{} Smplingは、機能臨界性に関する知識が利用可能であれば、既存のアプローチに代わるものを提供する。
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