論文の概要: Effect of Etching Methods on Dielectric Losses in Transmons
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2409.16097v1
- Date: Tue, 24 Sep 2024 13:52:12 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2024-09-26 05:36:51.261059
- Title: Effect of Etching Methods on Dielectric Losses in Transmons
- Title(参考訳): トランスモンの誘電損失に及ぼすエッチング方法の影響
- Authors: T. A. Chudakova, G. S. Mazhorin, I. V. Trofimov, N. Yu. Rudenko, A. M. Mumlyakov, A. S. Kazmina, E. Yu. Egorova, P. A. Gladilovich, M. V. Chichkov, N. A. Maleeva, M. A. Tarkhov, V. I. Chichkov,
- Abstract要約: 弱酸溶液中での湿式エッチングと塩素系プラズマを用いた乾式エッチングの2種類のアルミニウムエッチング法を用いて作製したトランスモンについて実験的に検討した。
ドライエッチングキュービットの緩和とコヒーレンス時間は、ウェットエッチングキュービットの2倍以上である。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
- Abstract: Superconducting qubits are considered as a promising platform for implementing a fault tolerant quantum computing. However, surface defects of superconductors and the substrate leading to qubit state decoherence and fluctuations in qubit parameters constitute a significant problem. The amount and type of defects depend both on the chip materials and fabrication procedure. In this work, transmons produced by two different methods of aluminum etching: wet etching in a solution of weak acids and dry etching using a chlorine-based plasma are experimentally studied. The relaxation and coherence times for dry-etched qubits are more than twice as long as those for wet-etched ones. Additionally, the analysis of time fluctuations of qubit frequencies and relaxation times, which is an effective method to identify the dominant dielectric loss mechanisms, indicates a significantly lower impact of two-level systems in the dry-etched qubits compared to the wet-etched ones.
- Abstract(参考訳): 超伝導量子ビットは、フォールトトレラント量子コンピューティングを実装するための有望なプラットフォームと考えられている。
しかし, 超伝導体および基板の表面欠陥は, クビット状態のデコヒーレンスやクビットパラメータのゆらぎの原因となっている。
欠陥の量と種類は、チップ材料と製造方法の両方に依存する。
本研究は, 弱酸溶液中での湿式エッチングと塩素系プラズマを用いた乾式エッチングの2種類のアルミニウムエッチング法を用いて作製したトランスモンについて実験的に検討した。
ドライエッチングキュービットの緩和とコヒーレンス時間は、ウェットエッチングキュービットの2倍以上である。
さらに、優占誘電体損失機構を同定する有効な方法であるキュービット周波数の時間変動と緩和時間の解析は、湿式エッチングキュービットに比べて2段階系の影響が著しく低いことを示している。
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