Fugu-MT 論文翻訳(概要): Design for light-based spherical aberration correction of ultrafast electron microscopes

論文の概要: Design for light-based spherical aberration correction of ultrafast electron microscopes

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2501.05157v1
Date: Thu, 09 Jan 2025 11:27:21 GMT
ステータス: 翻訳完了
システム内更新日: 2025-01-10 13:58:19.551105
Title: Design for light-based spherical aberration correction of ultrafast electron microscopes
Title（参考訳）: 超高速電子顕微鏡による球面収差補正の設計
Authors: Marius Constantin Chirita Mihaila, Martin Kozák,
Abstract要約: 超高速電子顕微鏡の収差補正には, 電子クロスオーバー近傍での観測的相互作用が有効であることを示す。電子-光相互作用のシミュレーションは、球面収差を補償できることを示し、その結果、収差自由角はSI8.1$となる。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License:
Abstract: We theoretically demonstrate that ponderomotive interactions near the electron cross-over can be used for aberration correction in ultrafast electron microscopes. Highly magnified electron shadow images from Si$_3$N$_4$ thin films are utilized to visualize the distortions induced by spherical aberrations. Our simulations of electron-light interactions indicate that spherical aberrations can be compensated resulting in an aberration free angle of \SI{8.1}{mrad}. For achieving the necessary light distribution, we use a gradient descent algorithm to optimize Zernike polynomials and shape the light beam into a modified Gaussian and Laguerre-Gaussian beam.
Abstract（参考訳）: 理論的には、超高速電子顕微鏡の収差補正に電子クロスオーバー近傍での雷動相互作用を用いることができる。 Si$_3$N$_4$薄膜からの高倍率電子影像を用いて球面収差による歪みを可視化する。電子-光相互作用のシミュレーションは、球面収差を補償できることを示し、その結果、収差自由角は \SI{8.1}{mrad} となる。必要な光分布を達成するために、Zernike多項式を最適化し、光ビームをガウスおよびラゲール・ガウスビームに変形させる勾配降下アルゴリズムを用いる。

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