Fugu-MT 論文翻訳(概要): Correlated quasiparticle poisoning from phonon-only events in superconducting qubits

論文の概要: Correlated quasiparticle poisoning from phonon-only events in superconducting qubits

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2503.09554v1
Date: Wed, 12 Mar 2025 17:16:21 GMT
ステータス: 翻訳完了
システム内更新日: 2025-03-13 15:38:33.929044
Title: Correlated quasiparticle poisoning from phonon-only events in superconducting qubits
Title（参考訳）: 超伝導量子ビットにおけるフォノンのみの事象による相関粒子毒
Authors: E. Yelton, C. P. Larson, K. Dodge, K. Okubo, B. L. T. Plourde,
Abstract要約: 超伝導量子ビットのための対破壊フォノンバーストの非イオン源これらの現象の1つの原因は、デバイス層と基板間の差熱収縮による熱誘起応力の緩和である。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
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Abstract: Throughout multiple cooldowns we observe a power-law reduction in time for the rate of multi-qubit correlated poisoning events, while the rate of shifts in qubit offset-charge remains constant; evidence of a non-ionizing source of pair-breaking phonon bursts for superconducting qubits. We investigate different types of sample packaging, some of which are sensitive to mechanical impacts from the cryocooler pulse tube. One possible source of these events comes from relaxation of thermally-induced stresses from differential thermal contraction between the device layer and substrate.
Abstract（参考訳）: クビットオフセットチャージにおけるシフトの速度は一定であり, 超伝導クビットに対する非イオン化フォノンバースト源の証拠である。本研究は, 低温パルス管の機械的衝撃に敏感な試料包装について検討した。これらの現象の1つの原因は、デバイス層と基板間の差熱収縮による熱誘起応力の緩和である。

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