論文の概要: Charge sensitivity in the transmon regime

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2508.03973v1
• Date: Tue, 05 Aug 2025 23:33:57 GMT
• ステータス: 翻訳完了
• システム内更新日: 2025-08-07 20:09:22.475778
• Title: Charge sensitivity in the transmon regime
• Title（参考訳）: トランスモン系における電荷感受性
• Authors: Rocio Gonzalez-Meza, Vito Iaia, Anika Zaman, Hiu-Yung Wong, Yujin Cho, Kristin Beck, Yaniv J. Rosen,
• Abstract要約: 我々は、$E_textJ/E_textC approx 50$ であっても、トランスモンはチャージノイズで制限できることを示した。 E_textJ/E_textC approx 50$でも、トランスモンはチャージノイズで制限できる。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.1794906241363549
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: Transmons are widely adopted in quantum computing architectures for their engineered insensitivity to charge noise and correspondingly long relaxation times. Despite this advantage, transmons often exhibit large fluctuations in dephasing times across different devices and also within qubits on the same device. Existing transmon qubits are assumed to be insensitive to charge noise. However, very little recent attention has been paid to the dependence of dephasing on the local charge environment. In this study, we see fluctuations in the dephasing time, $T_{\phi}$, which correlate to charge offset. While charge offset fluctuations are slow, parity switches are fast processes tied to the charge offset and can affect $T_{\phi}$ in Ramsey experiments. We implement a protocol to detect parity switching events using single-shot methods, which are interleaved within a Ramsey measurement. We find that events that remain in the same parity state have a higher $T_2$ than measurements averaged over both parities. Our results show that transmons can be limited by charge-noise, even with $E_\text{J}/E_\text{C} \approx 50$. Consequently, parity flip rates must be considered as a device characterization metric.
• Abstract（参考訳）: トランスモンは量子コンピューティングのアーキテクチャにおいて、ノイズのチャージとそれに伴う長い緩和時間に対する非感度のために広く採用されている。 この利点にもかかわらず、トランスモンは異なるデバイスと同じデバイス上のキュービット内の異なるデバイス間での遅延時間に大きな変動を示すことが多い。 既存のトランモン量子ビットは電荷ノイズに敏感であると仮定される。 しかし,近年の地域帯電環境へのデファスティングへの依存にはほとんど注意が払われていない。 本研究では, 電荷オフセットと相関するデフォーカス時間, $T_{\phi}$の変動を観測する。 電荷オフセットのゆらぎは遅いが、パリティスイッチは電荷オフセットに結びついた高速なプロセスであり、ラムゼーの実験で$T_{\phi}$に影響を与える可能性がある。 本研究では,ラムゼー測度にインターリーブされた単発方式を用いてパリティ切替イベントを検出するプロトコルを実装した。 同じパリティ状態にあるイベントは、両方のパリティの平均値よりも高いT_2$を持つことがわかった。 E_\text{J}/E_\text{C} \approx 50$ であっても,トランスモンはチャージノイズによって制限される。 したがって、パリティフリップレートはデバイス特性測定基準として考慮する必要がある。

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