論文の概要: Improved lower bound for the worst case Pretty Good Measurement
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2508.19085v1
- Date: Tue, 26 Aug 2025 14:46:32 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2025-08-27 17:42:38.887792
- Title: Improved lower bound for the worst case Pretty Good Measurement
- Title(参考訳): プティ・グッド測定における低境界の改善
- Authors: Austin Pechan, Sergio Escobar,
- Abstract要約: 我々は、最悪の量子状態判別のためのPretty Good Measurementの成功確率に基づいて、新しい低い境界を導出する。
PGMを逐次測定アルゴリズムと比較することにより、低忠実度状態においては、PGMの成功確率がペアの重複に対して2次的に減少することを示す保証を得る。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: We derive a new lower bound on the success probability of the Pretty Good Measurement (PGM) for worst-case quantum state discrimination among $m$ pure states. Our bound is strictly tighter than the previously known Gram-matrix-based bound for $m\geq 4$. The proof adapts techniques from Barnum and Knill's analysis of the average-case PGM, applied here to the worst-case scenario. By comparing the PGM to the sequential measurement algorithm, we obtain a guarantee showing that, in the low-fidelity regime, the PGM's success probability decreases quadratically with respect to the pairwise overlap, rather than linearly as in earlier bounds.
- Abstract(参考訳): 我々は、プリティグッド測定(PGM)の成功確率に基づいて、$m$純状態間の最悪の量子状態の判別を行う。
我々のバウンダリは、以前知られていたGram-matrixベースのバウンダリ($m\geq 4$)よりも厳密である。
この証明は、バーナムとクニルによる平均ケースPGMの分析の手法を、最悪のシナリオに適用するものである。
PGMを逐次測定アルゴリズムと比較することにより、低忠実度状態においては、PGMの成功確率は、以前の境界のように直線的にではなく、対重なりに対して2次的に減少することを示す保証を得る。
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