論文の概要: Evidence for a low-gap component in compressively stressed niobium thin films
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2609.26714v1
- Date: Tue, 22 Sep 2026 17:05:39 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-09-24 01:05:39.764496
- Title: Evidence for a low-gap component in compressively stressed niobium thin films
- Title（参考訳）: 圧縮応力ニオブ薄膜における低ギャップ成分のエビデンス
- Abstract要約: 高圧縮膜から作製したマイクロ波共振器は、温度依存性の低下と周波数シフトの増大を示す。
その結果,マイクロ波性能に強い影響を与える応力依存性の低エネルギー励起を従来の輸送測定で観測できることが示唆された。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: We investigate the microwave response of sputtered Nb films as a function of biaxial film stress. Although transport measurements show nearly identical superconducting transition temperatures ($9.0\pm 0.2$K) and residual resistance ratios across the stress series, microwave resonators fabricated from highly compressive films exhibit enhanced temperature-dependent loss and larger frequency shifts. A conventional single-phase Mattis--Bardeen description yields an effective critical temperature of $2.4\pm0.2$K, approximately a factor of four below the value obtained from transport measurements. We show that the data are instead consistent with the presence of an additional low-gap component whose contribution increases with compressive stress. These results show that conventional transport measurements can overlook stress-dependent low-energy excitations that strongly influence microwave performance.
- Abstract（参考訳）: Nbスパッタ膜のマイクロ波応答を2軸膜応力の関数として検討した。
輸送測定では、超伝導転移温度(9.0\pm 0.2$K)と応力列間の残留抵抗比がほぼ同じであるが、高圧縮膜から作製されたマイクロ波共振器は、温度依存性の損失が増大し、周波数シフトが大きくなる。
従来の単相マティス-バーディーンによる説明では、輸送測定から得られた4倍の4倍の2.4\pm0.2$Kの有効臨界温度が得られる。
圧縮応力によって寄与が増大する付加的な低ギャップ成分の存在と、データが一致していることが示される。
これらの結果から,マイクロ波性能に強い影響を与える応力依存性の低エネルギー励起を従来の輸送測定で観測できることが示唆された。
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