論文の概要: Bounds and sufficient conditions in quantum Zeno effect
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2611.01679v1
- Date: Sun, 01 Nov 2026 07:58:39 GMT
- ステータス: 情報取得中
- システム内更新日: 2026-11-03 19:37:15.597996
- Title: Bounds and sufficient conditions in quantum Zeno effect
- Title(参考訳): 量子ゼノ効果における境界と十分条件
- Abstract要約: 量子系は一連の測定を行い、初期状態にあるかどうかを確認する。
結果として生じる状態寿命は、測定期間が増加するにつれて減少する(量子ゼノ効果)か増加する(量子逆ゼノ効果)。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
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- Abstract: When a quantum system undergoes a series of repeated measurements during its time evolution to check whether it remains in the initial state, the resulting state lifetime can decrease (the quantum Zeno effect) or increase (the quantum inverse Zeno effect) as the inter-measurement period increases. Several transitions between these two regimes may occur within the same system. A carefully chosen measurement period $τ_\ast$ (or rate $r_\ast$ in the case of a stochastic measurement protocol) brings the state lifetime to its global minimum. Here, we describe the upper and lower bounds on the optimized state lifetime, which are expressed in terms of characteristic time scales encoded in the state survival probability $P(T)$, which is assumed to decrease monotonically to zero at large $T$. In addition, we analyze the bounds on the optimal measurement periods/rates and formulate sufficient conditions for observing the inverse Zeno effect. The analysis is also extended to states with non-monotonic survival functions. The results are illustrated numerically with an example of a system of optically trapped ultra-cold atoms.
- Abstract(参考訳): 量子系が初期状態のままであるかどうかを確認するために一連の繰り返し測定を行うと、結果として生じる状態寿命は(量子ゼノ効果)減少し(量子逆ゼノ効果)、測定期間が増加するにつれて増加する(量子逆ゼノ効果)。
これら2つの体制間のいくつかの遷移は、同じシステム内で起こりうる。
慎重に選択された測定期間$τ_\ast$(または確率的測定プロトコルの場合$r_\ast$)は、状態寿命をその大域的に最小にする。
ここでは、状態生存確率$P(T)$で符号化された特性時間スケールで表される最適化状態寿命の上限と下限について述べる。
さらに, 最適測定時間/レートの限界を解析し, 逆ゼノ効果の観測に十分な条件を定式化する。
この分析は非単調生存関数を持つ状態にも拡張される。
結果は、光学的に閉じ込められた超低温原子系の例で数値的に説明される。
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