論文の概要: Shoot on (Core)Sight: Re-enabling Secure Debug on the RP2350 with Photon-Emission Microscopy and Laser Fault Injection
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2611.06386v1
- Date: Wed, 04 Nov 2026 11:49:44 GMT
- ステータス: 翻訳完了
- システム内更新日: 2026-11-06 03:25:58.098835
- Title: Shoot on (Core)Sight: Re-enabling Secure Debug on the RP2350 with Photon-Emission Microscopy and Laser Fault Injection
- Title(参考訳): コアの撮影:光子発光顕微鏡とレーザー断層注入によるRP2350のセキュアデバッグの再起動
- Abstract要約: フォールトトレラントなポリシーストレージは、フォールトトレラントな執行を保証するものではない。
差動光電子分光法(PEM)と欠陥レーザー注入法(LFI)を用いてRP2350A4上でこの区別を実証した。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Fault-resistant policy storage does not guarantee fault-resistant enforcement. We demonstrated this distinction on the RP2350A4 using differential photon-emission microscopy (PEM) and laser fault injection (LFI). PEM narrowed the area for laser scanning, which found two sites where pulses set the DEBUGEN bits enabling core~1 Secure debug. An online attack sequence using only Serial Wire Debug (SWD) feedback restored sustained access. After rescue reset, the sequence recovered a 128-bit test secret. This reset reloads the secret's runtime page lock from a stored policy that permits Secure reads and prevents user firmware from tightening the lock.
- Abstract(参考訳): フォールトトレラントなポリシーストレージは、フォールトトレラントな執行を保証するものではない。
光子放出顕微鏡(PEM)とレーザー断層注入(LFI)を用いてRP2350A4上でこの区別を実証した。
PEMはレーザー走査のために領域を狭め、パルスがDEBUGENビットをセットしてコア~1安全なデバッグを可能にする2つの場所を発見した。
Serial Wire Debug(SWD)フィードバックのみを使用したオンラインアタックシーケンスは、持続的なアクセスを復元する。
リセット後、シークエンスは128ビットのテストシークレットを回収した。
このリセットはSecure読み込みを許可し、ユーザファームウェアがロックを締め付けるのを防ぐストアドポリシーからシークレットのランタイムページロックを再ロードする。
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