論文の概要: Testing a quantum annealer as a quantum thermal sampler
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2003.00361v2
- Date: Wed, 1 Dec 2021 16:19:04 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-06-01 05:38:21.742656
- Title: Testing a quantum annealer as a quantum thermal sampler
- Title(参考訳): 量子熱サンプラーとしての量子アニーラの検証
- Authors: Zoe Gonzalez Izquierdo, Tameem Albash, Itay Hen
- Abstract要約: D-Wave 2000Q量子アニールプロセッサを用いた正準一次元横場イジングモデルの対角熱特性について検討した。
量子プロセッサは、Quantum Monte Carloによって予測される正しい期待値の生成に失敗する。
任意の量子多体系に対して、熱予測値が一般に頑健に見積もることができるのかは、未解決の問題である。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.3437656066916039
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Motivated by recent experiments in which specific thermal properties of
complex many-body systems were successfully reproduced on a commercially
available quantum annealer, we examine the extent to which quantum annealing
hardware can reliably sample from the thermal state in a specific basis
associated with a target quantum Hamiltonian. We address this question by
studying the diagonal thermal properties of the canonical one-dimensional
transverse-field Ising model on a D-Wave 2000Q quantum annealing processor. We
find that the quantum processor fails to produce the correct expectation values
predicted by Quantum Monte Carlo. Comparing to master equation simulations, we
find that this discrepancy is best explained by how the measurements at finite
transverse fields are enacted on the device. Specifically, measurements at
finite transverse field require the system to be quenched from the target
Hamiltonian to a Hamiltonian with negligible transverse field, and this quench
is too slow. The limitations imposed by such hardware make it an unlikely
candidate for thermal sampling, and it remains an open question what thermal
expectation values can be robustly estimated in general for arbitrary quantum
many-body systems.
- Abstract(参考訳): 複雑な多体系の特定の熱特性を商業的に利用可能な量子アニーラで再現した最近の実験に動機づけられ、量子アニーリングハードウェアがターゲットの量子ハミルトニアンに付随する特定の基底において熱状態から確実にサンプルできる範囲について検討した。
我々は、d-wave 2000q量子アニーリングプロセッサ上での正準1次元横場イジングモデルの対角熱特性を調べることにより、この問題に対処する。
量子プロセッサは量子モンテカルロによって予測される正しい期待値を生成することができない。
マスター方程式のシミュレーションと比較すると、この差はデバイス上での有限横場の測定方法によって最もよく説明できる。
具体的には、有限横フィールドでの測度は、対象のハミルトニアンから無視可能な横フィールドを持つハミルトニアンへの待ち時間を必要とする。
このようなハードウェアによって課せられる制限は、熱サンプリングの候補になり得ず、任意の量子多体系に対して、熱予測値が一般に頑健に見積もることができるのかは、未解決のままである。
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