論文の概要: Short Shor-style syndrome sequences
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2008.05051v1
- Date: Wed, 12 Aug 2020 01:01:27 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-05-06 11:52:42.188879
- Title: Short Shor-style syndrome sequences
- Title(参考訳): ショートショア症候群
- Authors: Nicolas Delfosse and Ben W. Reichardt
- Abstract要約: コード固有のメソッドと一般的なメソッドの両方を、さまざまなテクニックとさまざまな設定で提供します。
単一ショット誤り訂正が可能な量子誤り訂正符号を設計する。
複数の論理量子ビットを持つ符号に対して、誤り訂正と部分論理測度を組み合わせる方法を与える。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: We optimize fault-tolerant quantum error correction to reduce the number of
syndrome bit measurements. Speeding up error correction will also speed up an
encoded quantum computation, and should reduce its effective error rate. We
give both code-specific and general methods, using a variety of techniques and
in a variety of settings. We design new quantum error-correcting codes
specifically for efficient error correction, e.g., allowing single-shot error
correction. For codes with multiple logical qubits, we give methods for
combining error correction with partial logical measurements. There are
tradeoffs in choosing a code and error-correction technique. While to date most
work has concentrated on optimizing the syndrome-extraction procedure, we show
that there are also substantial benefits to optimizing how the measured
syndromes are chosen and used. As an example, we design single-shot measurement
sequences for fault-tolerant quantum error correction with the 16-qubit
extended Hamming code. Our scheme uses 10 syndrome bit measurements, compared
to 40 measurements with the Shor scheme. We design single-shot logical
measurements as well: any logical Z measurement can be made together with
fault-tolerant error correction using only 11 measurements. For comparison,
using the Shor scheme a basic implementation of such a non-destructive logical
measurement uses 63 measurements. We also offer ten open problems, the
solutions of which could lead to substantial improvements of fault-tolerant
error correction.
- Abstract(参考訳): 故障耐性のある量子誤差補正を最適化し,シンドロームビット計測回数を削減する。
誤り訂正のスピードアップは、エンコードされた量子計算を高速化し、効果的なエラー率を下げる。
コード固有のメソッドと一般的なメソッドの両方を、さまざまなテクニックとさまざまな設定で提供します。
我々は、特に効率的な誤り訂正のための新しい量子誤り訂正符号を設計する。
複数の論理量子ビットを持つ符号に対して、誤り訂正と部分論理測度を組み合わせる方法を与える。
コードの選択とエラー訂正のテクニックにはトレードオフがある。
これまで,ほとんどの研究は,症候群抽出手順の最適化に集中してきたが,測定された症候群の選択と使用方法の最適化には大きなメリットがある。
例として16量子ビット拡張ハミング符号を用いたフォールトトレラント量子誤り訂正のための単発計測シーケンスを設計する。
提案手法は,Shor法で測定した40例と比較して10例のシンドロームビットを用いた。
任意の論理z測定は,11つの測定値のみを用いて,フォールトトレラントな誤り訂正と組み合わせて行うことができる。
比較のために、shorスキームを用いた非破壊的論理計測の基本的な実装では、63の測定を用いる。
また、フォールトトレラントなエラー訂正の大幅な改善につながる可能性のある10のオープンな問題も提供します。
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