論文の概要: Optimization of Quantum-dot Qubit Fabrication via Machine Learning
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2012.08653v1
- Date: Tue, 15 Dec 2020 22:30:49 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-04-20 18:46:27.397581
- Title: Optimization of Quantum-dot Qubit Fabrication via Machine Learning
- Title(参考訳): 機械学習による量子ドット量子ビット生成の最適化
- Authors: Antonio B. Mei, Ivan Milosavljevic, Amanda L. Simpson, Valerie A.
Smetanka, Colin P. Feeney, Shay M. Seguin, Sieu D. Ha, Wonill Ha, Matthew D.
Reed
- Abstract要約: 我々は、インライン走査型電子顕微鏡を解釈するために畳み込みニューラルネットワークを訓練する。
この戦略は、5次元の設計空間内でモデルリソグラフィープロセスの最適化によって実証される。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: Precise nanofabrication represents a critical challenge to developing
semiconductor quantum-dot qubits for practical quantum computation. Here, we
design and train a convolutional neural network to interpret in-line scanning
electron micrographs and quantify qualitative features affecting device
functionality. The high-throughput strategy is exemplified by optimizing a
model lithographic process within a five-dimensional design space and by
demonstrating a new approach to address lithographic proximity effects. The
present results emphasize the benefits of machine learning for developing
robust processes, shortening development cycles, and enforcing quality control
during qubit fabrication.
- Abstract(参考訳): 精密ナノファブリケーションは、実用的な量子計算のために半導体量子ドット量子ビットを開発するための重要な課題である。
ここでは,畳み込みニューラルネットワークを設計・訓練し,走査型電子マイクログラフを解釈し,デバイス機能に影響を与える質的特徴を定量化する。
5次元設計空間内でモデルリソグラフィプロセスを最適化し、リソグラフィ効果に対処するための新しいアプローチを示すことにより、高スループット戦略を例示する。
本結果は、堅牢なプロセスの開発、開発サイクルの短縮、キュービット製造における品質管理の強化における機械学習の利点を強調した。
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