論文の概要: Investigation of the dependence of noise characteristics of SPAD on the
gate parameters in sine-wave gated single-photon detectors
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2103.07363v3
- Date: Mon, 19 Apr 2021 09:18:23 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-04-08 10:45:53.526557
- Title: Investigation of the dependence of noise characteristics of SPAD on the
gate parameters in sine-wave gated single-photon detectors
- Title（参考訳）: 正弦波ゲート単光子検出器のゲートパラメータに対するSPADの雑音特性の依存性の検討
- Authors: A. V. Losev, V. V. Zavodilenko, A. A. Koziy, Y. V. Kurochkin, A. A.
Gorbatsevich
- Abstract要約: 我々は,量子鍵分布(QKD)を主成分とする波長1550nmのSine Wave gated (SWG) 単光子検出器 (SPD) について検討した。
SPDの制御パラメータと操作パラメータを結合する普遍的経験的依存コンパイルは、非自明な作業である。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: In this paper, we have investigated a self-developed sine wave gated (SWG)
single-photon detector (SPD) for 1550 nm wavelength primary for quantum key
distribution (QKD) usage. We have investigated different gate parameters`
influence on the SPD`s noise characteristics. We have admitted that with an
increase of gating voltage and constant value of quantum efficiency (QE), the
dark count rate (DCR) decreases. There have been made some recommendations to
improve SPD`s and whole QKD device's characteristics based on these
observations. There have been discovered the quick rise of the DCR value with
the increase of gating voltage above some certain value and this value was
different for different detectors. It has been shown that universal empirical
dependence compilation to connect control and operational parameters of SPD is
a non-trivial task.
- Abstract（参考訳）: 本稿では,量子鍵分布(QKD)を主成分とする波長1550nmのSine Wave gated (SWG) 単光子検出器について検討した。
異なるゲートパラメータがspdの雑音特性に与える影響について検討した。
我々は、ゲーティング電圧の増加と量子効率の定数値(QE)により、暗カウントレート(DCR)は減少することを認めた。
これらの観測に基づいてSPDとQKDデバイス全体の特性を改善するための推奨がなされている。
一定の値を超えるゲーティング電圧の増加に伴うDCR値の急激な上昇が発見され, 検出器毎に異なる値が得られた。
SPDの制御と操作パラメータを接続するための普遍的経験的依存コンパイルは、非自明な作業である。
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