論文の概要: Gated InGaAs Detector Characterization with Sub-Picosecond Weak Coherent Pulses

• arxiv url: http://arxiv.org/abs/2106.05599v3
• Date: Mon, 11 Jul 2022 09:19:41 GMT
• ステータス: 処理完了
• システム内更新日: 2023-03-27 02:09:22.467772
• Title: Gated InGaAs Detector Characterization with Sub-Picosecond Weak Coherent Pulses
• Title（参考訳）: サブピコ秒弱コヒーレントパルスを用いたゲートInGaAs検出器の特性評価
• Authors: Gautam Kumar Shaw, Shyam Sridharan and Anil Prabhakar
• Abstract要約: 我々は、ゲートInGaAs単光子検出器(SPD)を特徴付ける方法を提案し、実証する。 モード同期サブピコ秒パルスレーザーによる超短パルスコヒーレントパルスを用いて光子数を測定した。
• 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.360953887026184
• License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
• Abstract: We propose and demonstrate a method to characterize a gated InGaAs single-photon detector (SPD). Ultrashort weak coherent pulses, from a mode-locked sub-picosecond pulsed laser, were used to measure photon counts, at varying arrival times relative to the start of the SPD gate voltage. The uneven detection probabilities within the gate window were used to estimate the afterpulse probability with respect to various detector parameters: excess bias, width of gate window and hold-off time. We estimated a lifetime of 2.1 microseconds for the half-life of trapped carriers, using a power-law fit to the decay in afterpulse probability. Finally, we quantify the timing jitter of the SPD using a time to digital converter with a resolution of 55 ps.
• Abstract（参考訳）: ゲート型ingaas単一光子検出器(spd)を特徴付ける手法を提案する。 モードロックされたサブピコ秒パルスレーザーからの超短パルスは、SPDゲート電圧の開始時と異なる到着時間で光子数を測定するために使用された。 ゲートウインドウ内の不均一検出確率は, 余剰バイアス, ゲートウインドウ幅, ホールドオフ時間といった様々な検出パラメータに対して, 余剰確率を推定するために利用した。 残差確率の減衰に適合するパワーローを用いて,捕獲されたキャリアの半減期の寿命を2.1マイクロ秒と推定した。 最後に、解像度55psのtime to digitalコンバータを用いてspdのタイミングジッタを定量化する。

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