Fugu-MT 論文翻訳(概要): Comment on Kuwahara et al., Intensity Interference in a Coherent Spin-Polarized Electron Beam, Phys. Rev. Lett. 126, 125501 (2021)

論文の概要: Comment on Kuwahara et al., Intensity Interference in a Coherent Spin-Polarized Electron Beam, Phys. Rev. Lett. 126, 125501 (2021)

arxiv url: http://arxiv.org/abs/2111.02890v1
Date: Mon, 1 Nov 2021 19:38:00 GMT
ステータス: 処理完了
システム内更新日: 2023-03-09 16:40:34.285942
Title: Comment on Kuwahara et al., Intensity Interference in a Coherent Spin-Polarized Electron Beam, Phys. Rev. Lett. 126, 125501 (2021)
Title（参考訳）: Coherent Spin-Polarized Electron Beam, Phys における強度干渉 Rev. Lett. 126, 125501 (2021)
Authors: Herman Batelaan, Sam Keramati and T. J. Gay
Abstract要約: GaAs/GaAsPサンプルのひずみは一軸であり、光電子放出における線形二色性は15%と予測される。
参考スコア（独自算出の注目度）: 0.0
License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
Abstract: The claim that Kuwahara et al. [1] have reported the observation of a Hanbury Brown-Twiss electron antibunching dip (their Fig. 3) could possibly be explained as an electron source emission rate dependency on the light polarization. Strain on their GaAs/GaAsP sample is uniaxial, and one would expect a linear dichroism in the photoemission possibly as large as 15% [7] - much larger than the 0.1% reported effect. The same concern exist for circular polarized light.
Abstract（参考訳）: クワハラとアルの主張。 [1] は、ハンベリー・ブラウン・ツイツ電子反結合ディップの観測を報告している(第3図)が、光偏光への電子源放出速度依存性として説明できる可能性がある。 GaAs/GaAsP試料のひずみは一軸であり、光電子放出における線形二色性は0.1%よりも15%[7]大きいと予測される。円偏光についても同様の懸念がある。

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