論文の概要: Testability-Aware Low Power Controller Design with Evolutionary Learning
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2111.13332v1
- Date: Fri, 26 Nov 2021 06:38:14 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2021-11-29 23:57:55.097946
- Title: Testability-Aware Low Power Controller Design with Evolutionary Learning
- Title(参考訳): 進化的学習を用いたテスト容易性を考慮した低電力制御器の設計
- Authors: Min Li, Zhengyuan Shi, Zezhong Wang, Weiwei Zhang, Yu Huang, Qiang Xu
- Abstract要約: XORNetは、スキャンベースのテストにおいて回路遷移を減らすための一般的な技術である。
既存のソリューションはスキャンチェーン制御のためにXORNetを均等に構築し、結果として準最適解が得られる。
本稿では,進化学習を用いた新しいテスト容易性を考慮した低消費電力制御手法を提案する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 13.56555290389856
- License: http://creativecommons.org/licenses/by/4.0/
- Abstract: XORNet-based low power controller is a popular technique to reduce circuit
transitions in scan-based testing. However, existing solutions construct the
XORNet evenly for scan chain control, and it may result in sub-optimal
solutions without any design guidance. In this paper, we propose a novel
testability-aware low power controller with evolutionary learning. The XORNet
generated from the proposed genetic algorithm (GA) enables adaptive control for
scan chains according to their usages, thereby significantly improving XORNet
encoding capacity, reducing the number of failure cases with ATPG and
decreasing test data volume. Experimental results indicate that under the same
control bits, our GA-guided XORNet design can improve the fault coverage by up
to 2.11%. The proposed GA-guided XORNets also allows reducing the number of
control bits, and the total testing time decreases by 20.78% on average and up
to 47.09% compared to the existing design without sacrificing test coverage.
- Abstract(参考訳): xornetベースの低電力コントローラは、スキャンベースのテストで回路遷移を減らす一般的な技術である。
しかし、既存のソリューションはスキャンチェーン制御のためにXORNetを均等に構築しており、設計指導なしに最適化されたサブソリューションをもたらす可能性がある。
本稿では,進化的学習を伴う新しいテスト容易性を考慮した低消費電力制御器を提案する。
提案した遺伝的アルゴリズム(GA)から生成されたXORNetは、スキャンチェーンの使用状況に応じて適応制御が可能であり、これにより、XORNet符号化能力が大幅に向上し、ATPGによる障害ケースの数が少なくなり、テストデータ量も減少する。
実験の結果,同じ制御ビットの下では,GA誘導XORNetの設計により,最大2.11%の故障カバレッジが向上することが示された。
提案されたGA誘導XORNetは、制御ビット数を減らし、テスト時間が平均で20.78%減少し、テストカバレッジを犠牲にすることなく既存の設計と比較して47.09%まで減少した。
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