論文の概要: Sparse Ellipsometry: Portable Acquisition of Polarimetric SVBRDF and
Shape with Unstructured Flash Photography
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2207.04236v1
- Date: Sat, 9 Jul 2022 09:42:59 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2022-07-12 15:42:40.054343
- Title: Sparse Ellipsometry: Portable Acquisition of Polarimetric SVBRDF and
Shape with Unstructured Flash Photography
- Title（参考訳）: sparse ellipsometry: 非構造フラッシュ写真を用いたポラリメトリックsvbrdfと形状のポータブル取得
- Authors: Inseung Hwang, Daniel S. Jeon, Adolfo Mu\~noz, Diego Gutierrez, Xin
Tong, Min H. Kim
- Abstract要約: ポーラリメトリックSVBRDFと3次元形状を同時にキャプチャする携帯型ポーラリメトリック取得法を提案する。
日ではなく、総取得時間は1オブジェクトあたり20分から30分である。
本研究は, 実世界の物体の捕集された偏光量計BRDFの地上観測データと強く一致していることを示す。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 32.68190169944569
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Ellipsometry techniques allow to measure polarization information of
materials, requiring precise rotations of optical components with different
configurations of lights and sensors. This results in cumbersome capture
devices, carefully calibrated in lab conditions, and in very long acquisition
times, usually in the order of a few days per object. Recent techniques allow
to capture polarimetric spatially-varying reflectance information, but limited
to a single view, or to cover all view directions, but limited to spherical
objects made of a single homogeneous material. We present sparse ellipsometry,
a portable polarimetric acquisition method that captures both polarimetric
SVBRDF and 3D shape simultaneously. Our handheld device consists of
off-the-shelf, fixed optical components. Instead of days, the total acquisition
time varies between twenty and thirty minutes per object. We develop a complete
polarimetric SVBRDF model that includes diffuse and specular components, as
well as single scattering, and devise a novel polarimetric inverse rendering
algorithm with data augmentation of specular reflection samples via generative
modeling. Our results show a strong agreement with a recent ground-truth
dataset of captured polarimetric BRDFs of real-world objects.
- Abstract（参考訳）: エリプソメトリー技術は材料の偏光情報を計測することができ、光とセンサーの異なる構成の光学部品の正確な回転を必要とする。
これにより、実験室の条件や非常に長い取得時間、通常オブジェクト1日あたり数日間の順序で注意深く調整された、面倒なキャプチャデバイスが生まれます。
近年の手法では、偏光学的に空間的に変化する反射情報を捉えることができるが、単一のビューに制限されるか、または全てのビュー方向をカバーすることができるが、単一の均一な材料からなる球形物体に制限される。
ポーラリメトリックSVBRDFと3次元形状を同時にキャプチャする携帯型ポーラリメトリック取得法であるスパースエリプソメトリを提案する。
私たちのハンドヘルドデバイスは、既製の固定光学部品で構成されています。
日数の代わりに、取得時間はオブジェクトあたり20分から30分の間で異なる。
本研究では, 単一散乱だけでなく, 拡散成分, 鏡面成分を含む完全ポラリメトリックsvbrdfモデルを開発し, 生成的モデリングによる鏡面反射サンプルデータ拡張を伴う新しいポラリメトリック逆レンダリングアルゴリズムを考案する。
その結果、実世界の物体の偏光測定brdfの最近の地上データセットと強い一致を示した。
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