論文の概要: Passive Micron-scale Time-of-Flight with Sunlight Interferometry
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2211.10732v2
- Date: Tue, 28 Mar 2023 06:46:29 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-03-29 19:16:45.322988
- Title: Passive Micron-scale Time-of-Flight with Sunlight Interferometry
- Title（参考訳）: 太陽光干渉計を用いたパッシブマイクロンスケール飛行時間
- Authors: Alankar Kotwal and Anat Levin and Ioannis Gkioulekas
- Abstract要約: 微視的軸方向分解能における受動飛行時間イメージングと深度センシングのための干渉計測手法を提案する。
我々の技術は、日光を唯一の光源として使うように修正されたフルフィールドミッチェルソン干渉計を使用する。
我々は、直射日光の下で、および機械振動や車両交通などの環境条件下で、野外で運用する実験プロトタイプを構築した。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 22.706332189135242
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: We introduce an interferometric technique for passive time-of-flight imaging
and depth sensing at micrometer axial resolutions. Our technique uses a
full-field Michelson interferometer, modified to use sunlight as the only light
source. The large spectral bandwidth of sunlight makes it possible to acquire
micrometer-resolution time-resolved scene responses, through a simple axial
scanning operation. Additionally, the angular bandwidth of sunlight makes it
possible to capture time-of-flight measurements insensitive to indirect
illumination effects, such as interreflections and subsurface scattering. We
build an experimental prototype that we operate outdoors, under direct
sunlight, and in adverse environment conditions such as machine vibrations and
vehicle traffic. We use this prototype to demonstrate, for the first time,
passive imaging capabilities such as micrometer-scale depth sensing robust to
indirect illumination, direct-only imaging, and imaging through diffusers.
- Abstract（参考訳）: 微視的軸方向分解能における受動飛行時間イメージングと深度センシングのための干渉計測手法を提案する。
我々の技術は、日光を唯一の光源として使うように修正されたフルフィールドマイケルソン干渉計を使用する。
日光のスペクトル帯域が大きいため、簡単な軸走査操作により、マイクロメートル分解能の時間分解能シーン応答を得ることができる。
さらに、太陽光の角帯域幅は、反射や地下散乱のような間接的な照明効果に敏感な飛行時間の測定を捉えることができる。
我々は,屋外,直射日光の下で,機械振動や車両交通などの環境条件下での運転を行う実験プロトタイプを構築した。
このプロトタイプを用いて,マイクロメータの奥行き検出による間接照明のロバスト化,直接撮像,ディフューザによるイメージングなどのパッシブイメージング機能を初めて実証した。
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