論文の概要: On the fragility of gate-error metrics in simulation models of
flux-tunable transmon quantum computers
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2211.11011v5
- Date: Thu, 17 Aug 2023 08:26:41 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-08-22 01:05:54.915872
- Title: On the fragility of gate-error metrics in simulation models of
flux-tunable transmon quantum computers
- Title（参考訳）: フラックス可変トランスモン量子コンピュータシミュレーションモデルにおけるゲートエラーメトリクスの脆弱性について
- Authors: Hannes Lagemann, Dennis Willsch, Madita Willsch, Fengping Jin, Hans De
Raedt, Kristel Michielsen
- Abstract要約: 精度の欠如は、平均不忠実度やダイヤモンド距離といったゲートエラーの指標によって定量化されることが多い。
本稿では,これらの問題をフラックス可変トランスモンとカップリング共振器を用いた量子コンピュータの現実シミュレーションモデルを用いて検討する。
本研究の主目的は,(1)ゲートエラー指標がモデル上の多くの仮定に影響されていること,(2)連続ゲートエラーが線形に蓄積されないこと,(3)ゲートエラー指標が連続ゲートの性能予測に弱いこと,である。
- 参考スコア（独自算出の注目度）: 0.3495246564946556
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Constructing a quantum computer requires immensely precise control over a
quantum system. A lack of precision is often quantified by gate-error metrics,
such as the average infidelity or the diamond distance. However, usually such
gate-error metrics are only considered for individual gates, and not the errors
that accumulate over consecutive gates. Furthermore, it is not well known how
susceptible the metrics are to the assumptions which make up the model. Here,
we investigate these issues using realistic simulation models of quantum
computers with flux-tunable transmons and coupling resonators. Our main
findings reveal that (1) gate-error metrics are indeed affected by the many
assumptions of the model, (2) consecutive gate errors do not accumulate
linearly, and (3) gate-error metrics are poor predictors for the performance of
consecutive gates. Additionally, we discuss a potential limitation in the
scalability of the studied device architecture.
- Abstract（参考訳）: 量子コンピュータの構築には、量子システムに対する極めて正確な制御が必要である。
精度の欠如は、平均不忠実度やダイヤモンド距離などのゲートエラー指標によって定量化されることが多い。
しかしながら、このようなゲートエラーメトリクスは個々のゲートに対してのみ考慮され、連続するゲートに蓄積されるエラーではない。
さらに、メトリクスがモデルを構成する仮定にどの程度影響するかはよく分かっていない。
本稿では,これらの問題をフラックス可変トランスモンとカップリング共振器を用いた量子コンピュータの現実シミュレーションモデルを用いて検討する。
本研究の主目的は,(1)ゲートエラー指標がモデル上の多くの仮定に影響されていること,(2)連続ゲートエラーが線形に蓄積されないこと,(3)ゲートエラー指標が連続ゲートの性能予測に弱いこと,である。
さらに、研究対象のデバイスアーキテクチャのスケーラビリティの潜在的な制限について論じる。
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