論文の概要: FakET: Simulating Cryo-Electron Tomograms with Neural Style Transfer
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2304.02011v3
- Date: Fri, 5 Jul 2024 15:43:02 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2024-07-09 03:12:39.061892
- Title: FakET: Simulating Cryo-Electron Tomograms with Neural Style Transfer
- Title(参考訳): FakET:ニューラルスタイル転送によるクライオ・エレクトロン・トモグラフィのシミュレーション
- Authors: Pavol Harar, Lukas Herrmann, Philipp Grohs, David Haselbach,
- Abstract要約: 低温透過電子顕微鏡のフォワード演算子をシミュレートできるFakETを導入する。
高品質なシミュレートされたマイクログラフや傾きシリーズを生成する基準データに従って、合成トレーニングデータセットを適応するために使用できる。
特筆すべきは、我々の技術は性能にマッチし、データ生成速度を750倍にし、メモリを33倍削減し、典型的な透過型電子顕微鏡検出器サイズによくスケールすることです。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 4.0998481751764
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: In cryo-electron microscopy, accurate particle localization and classification are imperative. Recent deep learning solutions, though successful, require extensive training data sets. The protracted generation time of physics-based models, often employed to produce these data sets, limits their broad applicability. We introduce FakET, a method based on Neural Style Transfer, capable of simulating the forward operator of any cryo transmission electron microscope. It can be used to adapt a synthetic training data set according to reference data producing high-quality simulated micrographs or tilt-series. To assess the quality of our generated data, we used it to train a state-of-the-art localization and classification architecture and compared its performance with a counterpart trained on benchmark data. Remarkably, our technique matches the performance, boosts data generation speed 750 times, uses 33 times less memory, and scales well to typical transmission electron microscope detector sizes. It leverages GPU acceleration and parallel processing. The source code is available at https://github.com/paloha/faket.
- Abstract(参考訳): 低温電子顕微鏡では、正確な粒子の局在と分類が必須である。
最近のディープラーニングソリューションは成功したが、広範なトレーニングデータセットを必要とする。
これらのデータセットを生成するためにしばしば使用される物理モデルの生成時間は、その適用範囲を制限している。
本稿では,任意の低温透過電子顕微鏡のフォワード演算子をシミュレート可能なニューラルスタイル転送法であるFakETを紹介する。
高品質なシミュレートされたマイクログラフや傾きシリーズを生成する基準データに従って、合成トレーニングデータセットを適応するために使用できる。
生成したデータの品質を評価するために、最先端のローカライゼーションと分類アーキテクチャをトレーニングし、その性能をベンチマークデータで訓練されたものと比較した。
特筆すべきは、我々の技術は性能にマッチし、データ生成速度を750倍にし、メモリを33倍削減し、典型的な透過型電子顕微鏡検出器サイズによくスケールすることです。
GPUアクセラレーションと並列処理を利用する。
ソースコードはhttps://github.com/paloha/faket.comで入手できる。
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