論文の概要: The Combination of Metal Oxides as Oxide Layers for RRAM and Artificial
Intelligence
- arxiv url: http://arxiv.org/abs/2305.00166v1
- Date: Sat, 29 Apr 2023 04:15:50 GMT
- ステータス: 処理完了
- システム内更新日: 2023-05-02 16:39:56.280783
- Title: The Combination of Metal Oxides as Oxide Layers for RRAM and Artificial
Intelligence
- Title(参考訳): RRAMと人工知能のための酸化物層としての金属酸化物の複合
- Authors: Sun Hanyu
- Abstract要約: 金属酸化物をベースとしたRRAMとAIの組み合わせの概要について概説する。
我々は、RRAMデバイスの性能向上のためのAIの使用と、AIを駆動するRRAMの使用について論じる。
この分野における重要な課題に対処し、今後の研究方向性に関する洞察を提供する。
- 参考スコア(独自算出の注目度): 0.0
- License: http://arxiv.org/licenses/nonexclusive-distrib/1.0/
- Abstract: Resistive random-access memory (RRAM) is a promising candidate for
next-generation memory devices due to its high speed, low power consumption,
and excellent scalability. Metal oxides are commonly used as the oxide layer in
RRAM devices due to their high dielectric constant and stability. However, to
further improve the performance of RRAM devices, recent research has focused on
integrating artificial intelligence (AI). AI can be used to optimize the
performance of RRAM devices, while RRAM can also power AI as a hardware
accelerator and in neuromorphic computing. This review paper provides an
overview of the combination of metal oxides-based RRAM and AI, highlighting
recent advances in these two directions. We discuss the use of AI to improve
the performance of RRAM devices and the use of RRAM to power AI. Additionally,
we address key challenges in the field and provide insights into future
research directions
- Abstract(参考訳): 抵抗性ランダムアクセスメモリ(RRAM)は、高速、低消費電力、スケーラビリティに優れた次世代メモリデバイスにとって有望な候補である。
金属酸化物は、高い誘電率と安定性のため、RRAM装置の酸化物層として一般的に用いられる。
しかし、RRAMデバイスの性能をさらに向上させるため、最近の研究は人工知能(AI)の統合に焦点を当てている。
AIはRRAMデバイスのパフォーマンスの最適化に使用することができ、RRAMはハードウェアアクセラレータやニューロモルフィックコンピューティングでAIを駆動することもできる。
本稿では,金属酸化物をベースとしたRRAMとAIの組み合わせについて概説する。
我々は、RRAMデバイスの性能向上のためのAIの使用と、AIを駆動するRRAMの使用について論じる。
さらに、この分野の重要な課題に取り組み、今後の研究方向性に関する洞察を提供する。
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